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dc.contributor.authorGarcía López, J.-
dc.date.accessioned2018-01-09T08:13:23Z-
dc.date.available2018-01-09T08:13:23Z-
dc.date.issued2016-
dc.identifier.citationXIV Congreso Nacional de Materiales (2016)-
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/10261/158915-
dc.descriptionResumen del trabajo presentado al XIV Congreso Nacional de Materiales (CNMAT), celebrado en Gijón del 8 al 10 de junio de 2016.-
dc.description.abstractLos métodos analíticos con haces de iones, comúnmente conocidos como técnicas IBA (del inglés Ion Beam Analysis), utilizan iones ligeros tales como protones o núcleos de He con energías entorno al MeV para determinar, de manera no destructiva, concentraciones pequeñas de elementos cerca de la superficie de un sólido. En este trabajo describiremos brevemente los fundamentos físicos de algunas de las principales técnicas IBA: Rutherford Backscattering Spectrometry (RBS), Particle Induced XRay Emission (PIXE), Nuclear Reaction Analysis (NRA) y canalización iónica, comentando sus principales ventajas e inconvenientes en comparación con otros métodos de caracterización más convencionales. Típicamente, combinando varias técnicas IBA se pueden analizar de manera cuantitativa todos los elementos presentes en un sólido, desde el H hasta el Pu, con sensibilidades del orden de varias ppm y resolución en profundidad ≈ 100 Å. Finalmente, como ejemplos de aplicación de estas técnicas en el campo de la Ciencia de Materiales, comentaremos algunos trabajos realizados en el CNA en los últimos años en colaboración con diversos grupos de investigación, como son la determinación de los coeficientes de reparto del N en aceros superduplex usando una microsonda nuclear, la formación de capas finas de silicio poroso con porosidad cerrada crecidas por magnetrón sputtering con gas de He o la creación de semiconductores magnéticos de ancho gap.-
dc.rightsclosedAccess-
dc.titleCaracterización de materiales mediante técnicas de análisis con haces de iones-
dc.typecomunicación de congreso-
dc.date.updated2018-01-09T08:13:23Z-
dc.description.versionPeer Reviewed-
dc.language.rfc3066spa-
dc.relation.csic-
Appears in Collections:(CNA) Comunicaciones congresos
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