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Photometric characterization of extended sources by subsource goniospectroradiometry

AutorVelázquez, J.L. ; Ferrero, Alejandro ; Pons Aglio, Alicia ; Campos Acosta, Joaquín ; Hernanz, María Luisa
Fecha de publicación2016
EditorCommission Internationale de L'Eclairage
CitaciónProceedings of CIE Expert Symposium on the CIE S 025 LED Lamps, LED Luminaires and LED Modules Test Standard: 24- 33 (2016)
DescripciónProceedings held in Brnunschweig, Germany, 26 Nov. 2015
URIhttp://hdl.handle.net/10261/154822
Identificadoresisbn: 978-3-902842-28-2
Aparece en las colecciones: (CFMAC-IO) Libros y partes de libros
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