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http://hdl.handle.net/10261/135987
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Título: | A characterization of Poly(L-lactic acid) thin films via AFM, ellipsometry and X-ray scattering |
Autor: | Martínez-Tong, Daniel E. CSIC ORCID CVN; Spièce, J.; Nogales, Aurora CSIC ORCID; Sferrazza, M.; Napolitano, S. | Fecha de publicación: | 7-sep-2015 | Citación: | 6th International Conference on Synchrotron Radiation in Polymer Science (2015) | Descripción: | SRPS6, Madrid (Spain), 7-10 September 2015; http://srps6.com/scientific-program/program/ | URI: | http://hdl.handle.net/10261/135987 |
Aparece en las colecciones: | (CFMAC-IEM) Comunicaciones congresos |
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