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dc.contributor.authorPini, Valerioes_ES
dc.contributor.authorMonteiro Kosaka, Priscilaes_ES
dc.contributor.authorTamayo de Miguel, Francisco Javieres_ES
dc.contributor.authorCalleja, Montserrates_ES
dc.contributor.authorRamos Vega, Danieles_ES
dc.contributor.authorMalvar, Óscares_ES
dc.contributor.authorRuz Martínez, José Jaimees_ES
dc.contributor.authorEncinar, Marioes_ES
dc.date.accessioned2016-08-23T06:26:52Z-
dc.date.available2016-08-23T06:26:52Z-
dc.date.issued2016-05-11-
dc.identifier.citationES2569550 A1es_ES
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/10261/135745-
dc.description.abstractSe da a conocer un espectrofotómetro, en particular, a un espectrofotómetro con capacidad de análisis simultáneo en diferentes puntos de una misma muestra (4) disponiendo de una alta resolución espacial y sin requerir un sistema mecánico de barrido físico a lo largo de la muestra. Esto se consigue mediante la disposición de medios de procesamiento de la luz recibida por los fotodetectores (5) disponiendo dichos medios de procesamiento de una correlación en la que cada uno de los fotodetectores (5) corresponde a un punto espacial de la muestra (4). La presente invención garantiza en el caso de aplicaciones de campo oscuro la normalización de los datos utilizando la misma medida.es_ES
dc.language.isospaes_ES
dc.rightsopenAccesses_ES
dc.titleEspectrofotómetroes_ES
dc.title.alternativeSpectrophotometeres_ES
dc.typeSolicitud de patentees_ES
dc.description.peerreviewedPeer reviewedes_ES
dc.description.assigneeConsejo Superior de Investigaciones Científicas (España)es_ES
dc.date.priority2014-10-10-
dc.identifier.citationapplication201431491es_ES
dc.description.kindA1 Solicitud de patente con informe sobre el estado de la técnicaes_ES
dc.relation.csices_ES
oprm.item.hasRevisionno ko 0 false*
Appears in Collections:(IMN-CNM) Patentes
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