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dc.contributor.authorTamayo de Miguel, Francisco Javieres_ES
dc.contributor.authorMertens, Johannes_ES
dc.contributor.authorCalleja, Montserrates_ES
dc.date.accessioned2016-08-04T09:19:10Z-
dc.date.available2016-08-04T09:19:10Z-
dc.date.issued2015-09-28-
dc.identifier.citationES2546789 T3es_ES
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/10261/135314-
dc.description.abstractSistema de inspección de superficies dispuesto para detectar características de desplazamiento relativo y/o de vibración de diversos puntos de una pluralidad de elementos (51) que forman parte de una estructura mecánica (5), comprendiendo dicho sistema: una fuente de luz (1) dispuesta para generar, al menos, un haz de luz (11); un detector sensible a la posición (2) dispuesto para recibir el haz de luz cuando es reflejado fuera de la estructura mecánica (5) y para generar, al menos, una señal de salida en respuesta a la recepción de dicho haz de luz; un sistema de control electrónico (3); un medio de exploración (4) para el desplazamiento relativo de dicho haz de luz con relación a la estructura mecánica (5) con el fin de explorar dicha estructura mecánica con el haz de luz, siguiendo las instrucciones del sistema de control electrónico (3); caracterizado porque dicho sistema de control electrónico (3) está dispuesto para controlar el medio de exploración (4) con el fin de desplazar el haz de luz por la estructura mecánica a lo largo de una primera trayectoria (A) con objeto de detectar una pluralidad de posiciones de referencia subsiguientes (C), cada una en un elemento, a lo largo de dicha primera trayectoria (A), en el que dicho sistema de control electrónico (3) está asociado operativamente con dicho detector sensible a la posición (2) para determinar dichas posiciones de referencia (C) como resultado de un análisis de, al menos, una señal de salida de dicho detector sensible a la posición (2); en el que dicho sistema de control electrónico (3) está dispuesto además para controlar el medio de exploración (4) para desplazar el haz de luz por la estructura mecánica a lo largo de una pluralidad de segundas trayectorias (B), estando asociada cada una de dichas segundas trayectorias (B) con una de dichas posiciones de referencia (C); dicho sistema de control electrónico está dispuesto además para obtener, durante el desplazamiento del haz de luz a lo largo de cada una de dichas segundas trayectorias (B), una pluralidad de salidas de señales de posición de dicho detector sensible a la posición (2).es_ES
dc.language.isospaes_ES
dc.rightsopenAccesses_ES
dc.titleSistema y procedimiento de inspección de superficies de estructuras micro y nanomecánicases_ES
dc.typetraducción de patentees_ES
dc.description.peerreviewedPeer reviewedes_ES
dc.description.assigneeConsejo Superior de Investigaciones Científicas (España)es_ES
dc.date.priority2005-07-14-
dc.identifier.citationapplicationE05380157es_ES
dc.relation.patentfamilyEP1744325 A1 (2007-01-17)es_ES
dc.relation.patentfamilyEP1744325 B1 (2015-06-10)-
dc.description.kindT3 Traducción de patente europeaes_ES
dc.relation.csices_ES
oprm.item.hasRevisionno ko 0 false*
Appears in Collections:(IMN-CNM) Patentes
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