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dc.contributor.authorBaldi Coll, Antonioes_ES
dc.contributor.authorDomínguez, Carloses_ES
dc.contributor.authorJiménez-Jorquera, Ceciliaes_ES
dc.contributor.authorFernández Sánchez, Césares_ES
dc.contributor.authorLlobera, Andreues_ES
dc.contributor.authorMerlos Domingo, Ángeles_ES
dc.contributor.authorCadarso Busto, Víctor Javieres_ES
dc.contributor.authorBurdallo, Isabeles_ES
dc.contributor.authorVera Gras, Ferranes_ES
dc.date.accessioned2016-08-03T09:40:37Z-
dc.date.available2016-08-03T09:40:37Z-
dc.date.issued2015-08-12-
dc.identifier.citationES2542927 B1es_ES
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/10261/135259-
dc.description.abstractSe describe un sensor de iones y su método de fabricación que comprende un primer y un segundo transistor de efecto de campo selectivo a iones, un electrodo, un sustrato sobre cuya superficie se integran los dos transistores, unas pistas de conexión y el electrodo y una estructura adherida sobre el primer transistor que crea un microdepósito, lleno de una solución de referencia, con un microcanal que conecta con el exterior, así como un método de medida, que permite alargar la vida útil de dicho sensor, y que mientras éste no está siendo utilizado, se encuentra inmerso en un recipiente lleno de la solución de referencia, que permite alargar la vida útil de dicho sensor. La aplicación más habitual de este sensor es la medida de iones.es_ES
dc.language.isospaes_ES
dc.rightsopenAccesses_ES
dc.titleSensor de iones basado en medida diferencial, método de fabricación y método de medidaes_ES
dc.title.alternativeIon sensor based on differential measurement, and production methodes_ES
dc.typepatentees_ES
dc.description.peerreviewedPeer reviewedes_ES
dc.description.assigneeConsejo Superior de Investigaciones Científicas (España)es_ES
dc.date.priority2014-02-11-
dc.identifier.citationapplication201430180es_ES
dc.relation.patentfamilyES2542927 A2 (2015-08-12)es_ES
dc.relation.patentfamilyES2542927 R1 (2015-09-09)-
dc.description.kindB1 Patente sin examen previoes_ES
dc.relation.csices_ES
oprm.item.hasRevisionno ko 0 false*
Appears in Collections:(IMB-CNM) Patentes
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