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dc.contributor.authorFritsch Yusta, Carloses_ES
dc.contributor.authorFernández Cruza, Jorgees_ES
dc.contributor.authorCamacho Sosa-Días, Jorgees_ES
dc.contributor.authorMoreno Llamas, José Migueles_ES
dc.contributor.authorBrizuela Sánchez, José Davides_ES
dc.contributor.authorMedina Valdés, Luises_ES
dc.date.accessioned2015-11-12T10:38:05Z-
dc.date.accessioned2015-11-12T10:38:10Z-
dc.date.available2015-11-12T10:38:05Z-
dc.date.available2015-11-12T10:38:10Z-
dc.date.issued2014-12-26-
dc.identifier.citationES2525600 R1es_ES
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/10261/124901-
dc.description.abstractLa presente invención divulga un dispositivo y un método que realizan la focalización dinámica en sistemas de imagen ultrasónica, aplicables a inspecciones con presencia de un medio de acoplamiento entre el transductor y la parte inspeccionada. Los sistemas de imagen ultrasónica comprenden un array de N elementos transductores que emiten pulsos ultrasónicos con tiempos de vuelo característicos a puntos focales dentro del objeto a inspeccionar. La presente invención calcula un array virtual equivalente en tiempos de vuelo al array de N elementos, donde cada elemento perteneciente al array de N elementos virtual se calcula a partir de las coordenadas de dos focos FA y FB, ambos situados en un rayo principal, y de la ecuación: tK = t CF + t FA – t BF - tFV donde t CF, t FA, t BF, tFV son los tiempos de vuelo característicos, y tK es una constante independiente de la posición del punto focal.es_ES
dc.language.isospaes_ES
dc.rightsopenAccesses_ES
dc.titleMétodo para el control en tiempo real del enfoque dinámico en sistemas de imagen ultrasónica y dispositivo calculador de adelanto de muestreo asociado al mismoes_ES
dc.typeinforme técnicoes_ES
dc.description.peerreviewedPeer reviewedes_ES
dc.description.assigneeConsejo Superior de Investigaciones Científicas, Universidad Politécnica de Madrides_ES
dc.date.priority2012-05-25-
dc.identifier.citationapplication201230799es_ES
dc.relation.patentfamilyES2525600 A2es_ES
dc.description.kindR Informe sobre el estado de la técnica publicado separadamentees_ES
dc.relation.csices_ES
Appears in Collections:(ITEFI) Patentes
(CAEND) Patentes
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