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Título

Taller sobre estadísticas e indicadores de patentes

AutorSancho, Rosa
Palabras clavePatentes
Índicadores
Congresos y Asambleas
Fecha de publicación2004
EditorConsejo Superior de Investigaciones Científicas (España)
CitaciónRevista española de Documentación Científica; Vol 26, No 4 (2003)
ResumenLos días 17 al 19 de septiembre de 2003 se celebró en la sede de la Organización Mundial de la Propiedad Intelectual (OMPI), en Ginebra, un taller patrocinado por OCDE y OMPI, con el objetivo de profundizar en la mejora de las estadísticas de patentes y su aplicación como indicadores de resultados científicos, tecnológicos y de innovación, proponiéndose también nuevos indicadores de patentes. A la reunión asistieron unos 200 representantes, y se presentaron 24 ponencias a cargo de prestigiosos especialistas de todo el mundo en el campo de las estadísticas y los indicadores de patentes como: Francis Narin, de CHI Research Inc, de EE.UU.; Robert Tijssen, del Cen- Rev. Esp. Doc. Cient., 26, 4, 2003 465 tro de Estudios Científicos y Tecnológicos de la Universidad de Leiden; Guido Strack, de EUROSTAT; Ulrich Schmoch, del Instituto de Investigación de sistemas de Innovación, de Alemania; Pari Patel, de SPRU, Universidad de Sussex; Hèléne Dernis, de OCDE; Mikhail Makarov, de OMPI; Jim Hirabayashi, de OEP, entre otros.
Versión del editorhttp://redc.revistas.csic.es/index.php/redc/article/view/205/260
URIhttp://hdl.handle.net/10261/12195
ISSN0210-0614 (Print)
1988-4621 (Online)
Aparece en las colecciones: (CCHS-IEDCYT) Artículos
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