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Vázquez, Luis

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Vázquez, Luis
 
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Vázquez, L.
Vázquez Burgos, Luis
 
Centro o Instituto
CSIC - Instituto de Ciencia de Materiales de Madrid (ICMM)
 
Departamento
Física de superficies
 
Especialización
ESISNA (estructura de sistemas nanométricos)
 
Email
lvb@icmm.csic.es
 
ORCID
 
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Publications

Refined By:
Autor:  Palomares, F. Javier

Resultados 1-8 de 8.

DerechosPreviewFecha Public.TítuloAutor(es)Tipo
1closedAccessaccesoRestringido.pdf.jpgjul-2015Effect of the low magnetic field on the electrodeposition of CoxNi100 − x alloysOlvera, S.; Arce Estrada, E. M.; Sanchez-Marcos, J.; Palomares, F. Javier CSIC ORCID; Vázquez, Luis CSIC ORCID ; Herrasti, P.artículo
2openAccessRedondo_Highly_PhysRevB.102.075423_2020.pdf.jpg2020Highly ordered silicide ripple patterns induced by medium-energy ion irradiationRedondo-Cubero, Andrés; Palomares, F. Javier CSIC ORCID; Hübner, René; Gago, Raúl CSIC ORCID; Vázquez, Luis CSIC ORCID artículo
3closedAccessaccesoRestringido.pdf.jpg24-sep-2014Influence of metal co-deposition on silicon nanodot patterning dynamics during ion-beam sputteringGago, Raúl CSIC ORCID; Redondo-Cubero, A.; Palomares, F. Javier CSIC ORCID; Vázquez, Luis CSIC ORCID artículo
4closedAccessaccesoRestringido.pdf.jpgdic-2017Press-transferred carbon black nanoparticles for class-selective antioxidant electrochemical detectionPelle, Flavio Della; Battista, Roberto di; Vázquez, Luis CSIC ORCID ; Palomares, F. Javier CSIC ORCID; Carlo, Michele del; Sergi, Manuel; Compagnone, Dario; Escarpa, Albertoartículo
5openAccess32 INMArole.pdf.jpg2021Role of the interfaces in the crystallization and hysteresis mechanisms of amorphous Fe-B thin filmsUrdiroz, Unai; Palomares, F. Javier CSIC ORCID; Mayoral, Álvaro CSIC ORCID; Soldatov, I. V.; Schäfer, R.; González Fernández, Jesús María CSIC ORCID; Sánchez-Agudo, Marta; Navarro, Enrique CSIC ORCID ; Ruiz, Ana CSIC; Alonso, María CSIC ORCID; Vázquez, Luis CSIC ORCID ; Cebollada, F.artículo
6closedAccessaccesoRestringido.pdf.jpg27-sep-2016Self-organised silicide nanodot patterning by medium-energy ion beam sputtering of Si(100): local correlation between the morphology and metal contentRedondo-Cubero, A.; Galiana, B.; Lorenz, K.; Palomares, F. Javier CSIC ORCID; Bahena, D.; Ballesteros, C.; Hernández-Calderón, I.; Vázquez, Luis CSIC ORCID artículo
7closedAccessaccesoRestringido.pdf.jpg2013Self-organized surface nanopatterns on Cd(Zn)Te crystals induced by medium-energy ion beam sputteringGago, Raúl CSIC ORCID; Vázquez, Luis CSIC ORCID ; Palomares, F. Javier CSIC ORCID; Agulló Rueda, F. CSIC ORCID ; Vinnichenko, M.; Carcelén, V.artículo
8openAccessPalacio_Ultrathin_Nanoscale_2019_11_16767.pdf.jpg8-jul-2019Ultra-thin NaCl films as protective layers for graphenePalacio, Irene CSIC ORCID; Lauwaet, Koen CSIC ORCID; Vázquez, Luis CSIC ORCID ; Palomares, F. Javier CSIC ORCID; González-Herrero, Héctor; Martínez, José I. CSIC ORCID ; Aballe, Lucía; Foerster, Michael; García-Hernández, Mar CSIC ORCID ; Martín-Gago, José A. CSIC ORCID artículo