Leger, Gildas

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Firma en Digital.CSIC (*)

Leger, Gildas

Centro o Instituto

Instituto de Microelectrónica de Sevilla (IMSE-CNM)

Departamento

Design and Test of Mixed-Signal Integrated Circuits Research Unit

Categoría Profesional

Científico Titular

Especialización

Diseño y Test de Circuitos AMS-RF

leger@imse-cnm.csic.es

ORCID

http://orcid.org/0000-0002-2310-7906

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Palabras Clave: Alternate Test

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		Derechos	Preview	Fecha Public.	Título	Autor(es)	Tipo
	1	closedAccess; openAccess		sep-2016	Brownian distance correlation-directed search: A fast feature selection technique for alternate test	Leger, Gildas CSIC ORCID ; Barragán, Manuel J. CSIC ORCID	artículo