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Firma en Digital.CSIC (*)
Leger, Gildas
 
Centro o Instituto
Instituto de Microelectrónica de Sevilla (IMSE-CNM)
 
Departamento
Design and Test of Mixed-Signal Integrated Circuits Research Unit
 
Categoría Profesional
Científico Titular
 
Especialización
Diseño y Test de Circuitos AMS-RF
 
Email
leger@imse-cnm.csic.es
 
 
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Resultados 1-15 de 15.

DerechosPreviewFecha Public.TítuloAutor(es)Tipo
1openAccessFeatureDesign_postprint.pdf.jpg2015A Procedure for Alternate Test Feature Design and SelectionBarragán, Manuel J. CSIC ORCID; Leger, Gildas CSIC ORCID artículo
2openAccessTest of LNAs.pdf.jpg6-ene-2011Alternate test of LNAs through ensemble learning of on-chip digital envelope signaturesBarragán, Manuel J. CSIC ORCID; Fiorelli, Rafaella CSIC ORCID; Leger, Gildas CSIC ORCID ; Rueda, Adoración CSIC ORCID; Huertas-Díaz, J. L. CSICartículo
3openAccessSMACD_Special.pdf.jpg2020An adaptive simulation framework for AMS-RF test qualityGutiérrez, Valentín CSIC ORCID; Leger, Gildas CSIC ORCID artículo
4openAccessETS15_leger_final.pdf.jpg2015Boundary cost optimization for Alternate TestLeger, Gildas CSIC ORCID artículo
5closedAccess; openAccessbrownian_distance_correlation-directed_search_fast_feature_selection_technique_alternate_test.pdf.jpgsep-2016Brownian distance correlation-directed search: A fast feature selection technique for alternate testLeger, Gildas CSIC ORCID ; Barragán, Manuel J. CSIC ORCIDartículo
6openAccessElec_Letter_postprint.pdf.jpg2004Cascade ΣΔ modulator with digital correction for finite amplifier gain effectsLeger, Gildas CSIC ORCID ; Rueda, Adoración CSIC ORCIDartículo
7openAccessICECS_ID_2271_GINES.pdf.jpg2015Closed-loop Simulation Method for Evaluation of Static Offset in Discrete-Time ComparatorsGinés, Antonio J. CSIC ORCID; Peralías, E. CSIC ORCID ; Leger, Gildas CSIC ORCID ; Rueda, Adoración CSIC ORCIDartículo
8openAccessIEEspec_postprint.pdf.jpg2004Digital test for the extraction of integrator leakage in first- and second-order ΣΔ modulatorsLeger, Gildas CSIC ORCID ; Rueda, Adoración CSIC ORCIDartículo
9closedAccessanalog_mixed-signal_RF_testing.pdf.jpgago-2016Guest editorial: analog, mixed-signal and RF testingLeger, Gildas CSIC ORCID ; Wegener, Carstenartículo
10openAccessTCAS04_postprint.pdf.jpg2004Impact of random channel mismatch on the SNR and SFDR of time-interleaved ADCsLeger, Gildas CSIC ORCID ; Peralías, E. CSIC ORCID ; Rueda, Adoración CSIC ORCID; Huertas-Díaz, J. L. CSICartículo
11openAccesselectronics-12-04559.pdf.jpg7-nov-2023Implementation of Background Calibration for Redundant FLASH ADCDarwish, Hala; Reig, Candid; Leger, Gildas CSIC ORCID artículo
12openAccessLow-cost digital.pdf.jpg2009Low-cost digital detection of parametric faults in cascaded ΣΔ modulatorsLeger, Gildas CSIC ORCID ; Rueda, Adoración CSIC ORCIDartículo
13openAccessOn chopper effects.pdf.jpgsep-2010On chopper effects in discrete-time ΣΔ modulatorsLeger, Gildas CSIC ORCID ; Ginés, Antonio J. CSIC ORCID; Peralías, E. CSIC ORCID ; Rueda, Adoración CSIC ORCIDartículo
14openAccesson-chip.pdf.jpg2002On-chip evaluation of oscillation-based-test output signals for switched-capacitor circuitsVázquez, Diego CSIC ORCID; Huertas, Gloria CSIC ORCID; Leger, Gildas CSIC ORCID ; Peralías, E. CSIC ORCID ; Rueda, Adoración CSIC ORCID; Huertas-Díaz, J. L. CSICartículo
15openAccessAICSP_reviewed_postprint.pdf.jpg2015On-chip sinusoidal signal generation with harmonic cancelation for analog and mixed-signal BIST applicationsBarragán, Manuel J. CSIC ORCID; Leger, Gildas CSIC ORCID ; Vázquez, Diego CSIC ORCID; Rueda, Adoración CSIC ORCIDartículo