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Derechos	Preview	Fecha Public.	Título	Autor(es)	Tipo
openAccess		oct-2010	Characterization of silicon thin overlayers on rutile TiO2 (110)-(1x1)	Abad, José; González, Carlos CSIC ; Andrés, Pedro L. de CSIC ORCID CVN; Román García, Elisa Leonor CSIC	artículo

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