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Navegación por Autor Stegmann, Heiko
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Derechos | Preview | Fecha Public. | Título | Autor(es) | Tipo |
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openAccess | 2013 | Electron backscatter diffraction analysis of non-conductive samples using in-situ charge compensation | Serrano-Zabaleta, S. CSIC; Larrea, A. CSIC ORCID ; Stegmann, Heiko; Waltenberg, Carsten | artículo |