English
español
Navegación por Autor Serra, R.
Mostrando resultados 1 a 1 de 1
Derechos | Preview | Fecha Public. | Título | Autor(es) | Tipo |
---|---|---|---|---|---|
closedAccess | 2021 | Evaluation of bias voltage-dependent mechanical properties of amorphous TiSi2 thin films on PEEK by nano-characterization techniques | Frutos, E. CSIC; Serra, R.; Jiménez, José Antonio CSIC ORCID | artículo |