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español
Navegación por Autor Patil, Shivprasad
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Derechos | Preview | Fecha Public. | Título | Autor(es) | Tipo |
openAccess | | 11-oct-2006 | Enhanced compositional sensitivity in atomic force microscopy by the excitation of the first two flexural modes | Martínez Cuadrado, Nicolás Francisco CSIC; Patil, Shivprasad CSIC; Lozano, José R. CSIC; García García, Ricardo CSIC ORCID | artículo |
openAccess | | 7-jul-2006 | Identification of Nanoscale Dissipation Processes by Dynamic Atomic Force Microscopy | García García, Ricardo CSIC ORCID; Gómez Castro, Carlos Javier CSIC; Martínez Cuadrado, Nicolás Francisco CSIC; Patil, Shivprasad CSIC; Dietz, Christian CSIC ORCID; Magerle, R. | artículo |