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Navegación por Autor Lévêque, G.
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Derechos | Preview | Fecha Public. | Título | Autor(es) | Tipo |
openAccess | | 2009 | Determination of the nanoscale dielectric constant by means of a double pass method using electrostatic force microscopy | Riedel, C.; Arinero, R.; Tordjeman, Ph.; Ramonda, M.; Lévêque, G.; Schwartz, Gustavo A. CSIC ORCID; Oteyza, Dimas G. de CSIC ORCID; Alegría, Ángel CSIC ORCID ; Colmenero de León, Juan CSIC ORCID | artículo |
openAccess | | abr-2010 | Dielectric properties of thin insulating layers measured by Electrostatic Force Microscopy | Riedel, C.; Arinero, R.; Tordjeman, Ph.; Lévêque, G.; Schwartz, Gustavo A. CSIC ORCID; Oteyza, Dimas G. de CSIC ORCID; Alegría, Ángel CSIC ORCID ; Colmenero de León, Juan CSIC ORCID | artículo |
closedAccess | | may-2010 | Nanoscale dielectric properties of insulating thin films: From single point measurements to quantitative images | Riedel, C.; Schwartz, Gustavo A. CSIC ORCID; Arinero, R.; Tordjeman, Ph.; Lévêque, G.; Alegría, Ángel CSIC ORCID ; Colmenero de León, Juan CSIC ORCID | artículo |