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Browsing by Author Källberg, S.

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RightsPreviewIssue DateTitleAuthor(s)Type
openAccess14-Jun-2019Future photometry based on solid-state lighting productsPoikonen, T.; Pulli, T.; Kokka, A.; Askola, J.; Dönsberg, T.; Šmíd, M.; Kliment, P.; Pons Aglio, Alicia CSIC ORCID; Ferrero, Alejandro CSIC ORCID; Kübarsepp, T.; Gál, P.; Gerloff, T.; Sperling, A.; Källberg, S.; Dekker, P.; Thorseth, A.; Jost, S.; Klej, A.; Brida, G.; Reiners, T.; Blattner, P.; Stuker, F.; Ludwig, K.; Schneider, M.comunicación de congreso
openAccessFuture photometry.pdf.jpg14-Jun-2019Future photometry based on solid-state lighting productsPoikonen, T.; Pulli, T.; Kokka, A.; Askola, J.; Dönsberg, T.; Šmíd, M.; Kliment, P.; Pons Aglio, Alicia CSIC ORCID; Ferrero, Alejandro CSIC ORCID; Kübarsepp, T.; Gál, P.; Gerloff, T.; Sperling, A.; Källberg, S.; Dekker, P.; Thorseth, A.; Jost, S.; Klej, A.; Brida, G.; Reiners, T.; Blattner, P.; Stuker, F.; Ludwig, K.; Schneider, M.capítulo de libro
closedAccessaccesoRestringido.pdf.jpg24-Feb-2014"Multidimensional reflectometry for industry" (xD-Reflect) an European research projectHöpe, Andreas; Koo, Annette; Martínez Verdú, Francisco; Leloup, Frédéric B.; Obein, Gaël; Wübbeler, Gerd; Campos Acosta, Joaquín CSIC ORCID ; Iacomussi, Paola; Jaanson, P.; Källberg, S.; Smidk, Marekartículo
closedAccessaccesoRestringido.pdf.jpg1-Mar-2017Multilateral spectral radiance factor scale comparisonStrothkämper, C.; Ferrero, Alejandro CSIC ORCID; Koo, A.; Jaanson, P.; Ged, G.; Obein, G.; Källberg, S.; Audenaert, J.; Leloup, F. B.; Martínez-Verdú, F. M.; Perales, E.; Schirmacher, A.; Campos Acosta, Joaquín CSIC ORCID artículo
openAccess24-Jun-2014xD-Reflect - >Multidimensional Reflectometry for Industry> a research project of the European Metrology Research Program (EMRP)Hope, A.; Koo, A.; Forthmann, C.; Verdú, F.M.; Campos Acosta, Joaquín CSIC ORCID ; Källberg, S.comunicación de congreso