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Navegación por Autor Jordà, Xavier

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DerechosPreviewFecha Public.TítuloAutor(es)Tipo
closedAccess2008A heterodyne method for the thermal observation of the electrical behavior of high-frequency integrated circuitsAltet, J.; Aldrete Vidrio, E.; Mateo, D.; Perpiñà, X.; Jordà, Xavier; Vellvehi Hernández, Miquel; Millán, José; Salhi, A.; Grauby, Stéphane; Claeys, W.; Dilhaire, S.Artículo
openAccessenergies-10-00256-v2.pdf.jpg20-feb-2017A New Vertical JFET Power Device for Harsh Radiation EnvironmentsFernández-Martínez, Pablo; Flores, David; Hidalgo, Salvador; Jordà, Xavier; Perpiñá Giribet, Xavier; Quirion, David; Ré, Lucía; Ullán, Miguel; Vellvehi Hernández, MiquelArtículo
closedAccessjul-2011Analysis of Clamped Inductive Turnoff Failure in Railway Traction IGBT Power Modules Under Overload ConditionsPerpiñà, X.; Serviere, J. F.; Urresti, J.; Cortés, I.; Jordà, Xavier; Hidalgo, Salvador; Rebollo, J.; Mermet-Guyennet, M.Artículo
openAccessARTICULOS13790[1].pdf.jpgmay-2010Analysis of Excess Carrier Concentration Control in Fast-Recovery High Power Bipolar Diodes at Low Current DensitiesPerpiñà, X.; Jordà, Xavier; Vellvehi Hernández, Miquel; Vobecky, J.; Mestres, Narcís Artículo
closedAccessaccesoRestringido.pdf.jpg2009Comparaison de diodes SiC-4H Schottky et bipolaires 3 kV-20 AJordà, XavierArtículo
openAccessARTICULOS13057[1].pdf.jpg2005Development of an analog processing circuit for IR-radiation power and noncontact position measurementsPerpiñà, X.; Jordà, Xavier; Vellvehi Hernández, Miquel; Millán, JoséArtículo
openAccessARTICULOS13303[1].pdf.jpg2009GaN metal-oxide-semiconductor field-effect transistor inversion channel mobility modelingPérez-Tomás, A.; Placidi, A.; Perpiñà, X.; Constant, A.; Godignon, Philippe; Jordà, Xavier; Brosselard, P.; Millán, JoséArtículo
openAccessARTICULOS13282[1].pdf.jpgdic-2004Heat power source controller circuitMadrid, Francesc ; Jordà, Xavier; Vellvehi Hernández, Miquel; Perpiñà, X.; Godignon, PhilippeArtículo
openAccessGetPDFServlet.pdf.jpg2-feb-2009Heterodyne lock-in thermal coupling measurements in integrated circuits: Applications to test and characterizationAltet, J.; Aldrete Vidrio, E.; Mateo, D.; Salhi, A.; Grauby, Stéphane; Claeys, W.; Dilhaire, S.; Perpiñà, X.; Jordà, XavierArtículo
closedAccess2003High-frequency Ultrasonic Atomization with Pulsed ExcitationLozano Fantoba, Antonio; Amaveda, H.; Barreras Toledo, Félix; Jordà, Xavier; Lozano Fantoba, ManuelArtículo
openAccessARTICULOS315585[1].pdf.jpg2011Hot spot analysis in integrated circuit substrates by laser mirage effectPerpiñà, X.; Jordà, Xavier; Vellvehi Hernández, Miquel; Altet, J.Artículo
closedAccessoct-2008Hot-Spot Detection in Integrated Circuits by Substrate Heat-Flux SensingPerpiñà, X.; Altet, J.; Jordà, Xavier; Vellvehi Hernández, Miquel; Millán, José; Mestres, Narcís Artículo
closedAccess2008IGBT module failure analysis in railway applicationsPerpiñà, X.; Serviere, J. F.; Jordà, Xavier; Fauquet, A.; Hidalgo, Salvador; Urresti, J.; Rebollo, J.; Mermet-Guyennet, M.Artículo
closedAccess2004Internal infrared laser deflection system: a tool for power device characterizationPerpiñà, X.; Jordà, Xavier; Mestres, Narcís ; Vellvehi Hernández, Miquel; Godignon, Philippe; Millán, José; Kiedrowski, H. vonArtículo
openAccessWO2007122281A1.pdf.jpg1-nov-2007Interruptor de potencia bidireccional, inteligente y modular, método y realizaciónJordà, Xavier; Gálvez Sánchez, José Luis ; Vellvehi Hernández, Miquel; Godignon, Philippe; José Prieto, Miguel Ángel; Martín Ramos, Juan AntonioPatente
openAccess2317731_B1.pdf.jpg4-feb-2010Interruptor de potencia bidireccional, inteligente y modular. Método y realizaciónJordà, Xavier; Gálvez Sánchez, José Luis ; Vellvehi Hernández, Miquel; Godignon, Philippe; José Prieto, Miguel Ángel; Martín Ramos, Juan AntonioPatente
closedAccessene-2009Laser beam deflection-based perimeter scanning of integrated circuits for local overheating locationPerpiñà, X.; Jordà, Xavier; Altet, J.; Vellvehi Hernández, Miquel; Mestres, Narcís Artículo
closedAccess2007Local thermal cycles determination in thermosyphon-cooled traction IGBT modules reproducing mission profilesPerpiñà, X.; Pitón, M.; Mermet-Guyennet, M.; Jordà, Xavier; Millán, JoséArtículo
closedAccessjul-2011Long-Term Reliability of Railway Power Inverters Cooled by Heat-Pipe-Based SystemsPerpiñà, X.; Jordà, Xavier; Vellvehi Hernández, Miquel; Rebollo, J.; Mermet-Guyennet, M.Artículo
closedAccessjul-2011Low-cost and versatile thermal test chip for power assemblies assessment and thermometric calibration purposesJordà, Xavier; Perpiñá Giribet, Xavier; Vellvehi Hernández, Miquel; Madrid, Francesc ; Flores, David; Hidalgo, Salvador; Millán, JoséArtículo