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Navegación por Autor González-Díaz, G.

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openAccessGetPDFServlet.pdf.jpg1-dic-2000Comparison of Raman-scattering and Shubnikov–de Haas measurements to determine charge density in doped semiconductorsCuscó, Ramón CSIC ORCID ; Artús, Lluís CSIC ORCID ; Ibáñez Insa, Jordi CSIC ORCID ; Blanco, N.; González-Díaz, G.; Rahman, M.; Long, A. R.artículo
openAccess2009 Artus JApplPhys_106_053510.pdf.jpgsep-2009Laser thermal annealing effects on single crystal gallium phosphidePastor, D.; Olea, Javier; Toledano-Luque, M.; Mártil, Ignacio; González-Díaz, G.; Ibáñez Insa, Jordi CSIC ORCID ; Cuscó, Ramón CSIC ORCID ; Artús, Lluís CSIC ORCID artículo
closedAccessaccesoRestringido.pdf.jpg2016Limitations of high pressure sputtering for amorphous silicon depositionGarcía-Hernansanz, R.; García-Hemme, E.; Montero, D.; Olea, J.; San Andrés, E.; Prado, A.; Ferrer, F. J. CSIC ORCID; Mártil, I.; González-Díaz, G.artículo
closedAccessaccesoRestringido.pdf.jpg2014Multiphononon resonant Raman scattering in He+-implanted InGaNDomènech-Amador, Núria CSIC; Cuscó, Ramón CSIC ORCID ; García-Hernansanz, R.; González-Díaz, G.; Gandhi, J.; Bensaoula, A.; Artús, Lluís CSIC ORCID artículo
openAccess10-dic-2019On the properties of GaP supersaturated with TiOlea, J.; Algaidy, S.; Prado, A. del; García-Hemme, E.; García-Hernansanz, R.; Montero, D.; Caudevilla, D.; González-Díaz, G.; Soria, Esther; Gonzalo, J. CSIC ORCIDartículo
openAccess2009 Artus Proceedings IEEE.pdf.jpgmar-2009Pulsed Laser Melting Effects on Single Crystal Gallium PhosphidePastor, D.; Olea, Javier; Toledano-Luque, M.; Mártil, Ignacio; González-Díaz, G.; Ibáñez Insa, Jordi CSIC ORCID ; Cuscó, Ramón CSIC ORCID ; Artús, Lluís CSIC ORCID artículo
closedAccessaccesoRestringido.pdf.jpg2011UV and visible Raman scattering of ultraheavily Ti implanted Si layers for intermediate band formationPastor, D.; Olea, J.; del Prado, A.; García-Hemme, E.; Mártil, I.; González-Díaz, G.; Ibáñez Insa, Jordi CSIC ORCID ; Cuscó, Ramón CSIC ORCID ; Artús, Lluís CSIC ORCID artículo