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Navegación por Autor Funke, S.
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Derechos | Preview | Fecha Public. | Título | Autor(es) | Tipo |
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openAccess | 27-may-2019 | Refractive Index Contrast and Wavelength Dispersion of Channel Waveguides Inscribed by fs-Laser Induced Ion-migration Revealed by Imaging Ellipsometry | Moreno-Zarate, Pedro; González, A.; Funke, S.; Días-Ponte, Antonio CSIC ORCID CVN; Sotillo, B; Hoyo, J.; García, M.; Serna, Rosalía CSIC ORCID ; Fernández, P. CSIC; Solís Céspedes, Javier CSIC ORCID | comunicación de congreso | |
openAccess | 1-nov-2017 | Spectroscopic imaging ellipsometry of self-assembled SiGe/Si nanostructures | Alonso Carmona, M. Isabel CSIC ORCID ; Funke, S.; González, A.; Garriga Bacardi, Miquel; Vaccaro, Pablo Óscar CSIC ORCID; Goñi, Alejandro R. CSIC ORCID; Ruiz, A.; Alonso, María CSIC ORCID; Thiesen, P.H. | artículo |