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Navegación por Autor Campos Acosta, Joaquín

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closedAccessaccesoRestringido.pdf.jpg30-mar-20172D plasmonic diffractive patterns in metals by laser interferencePeláez, Ramón J. ; Ferrero, Alejandro ; Campos Acosta, Joaquín Comunicación de congreso
openAccess24-jun-2014A new filter radiometer for the thermodynamic measurement of high temperature fixed pointsMantilla, J. M.; Martín, M. J.; Hernanz, María Luisa ; Pons Aglio, Alicia ; Campos Acosta, Joaquín ; Campo, D. delPóster
openAccessFerrero.pdf.jpg2013A single analytical model for sparkle and graininess patterns in texture of effect coatingsFerrero, Alejandro ; Campos Acosta, Joaquín ; Rabal, A. M.; Pons Aglio, Alicia Artículo
openAccessCOMUNICACIONES_A_CONGRESOS293694[1].pdf.jpg2010An absolute radiometer based on InP photodiodesMuñoz Zurita, Ana Luz; Campos Acosta, Joaquín ; Gómez Jiménez, Ramón; Uribe Valladares, RodrigoComunicación de congreso
openAccess19-jul-2016Análisis cromático de fuentes OLEDsVelázquez, J.L. ; Ferrero, Alejandro ; Pons Aglio, Alicia ; Campos Acosta, Joaquín ; Hernanz, María Luisa ; Borreguero, E. ; Bernard, BertaComunicación de congreso
closedAccessaccesoRestringido.pdf.jpg2003Anomalous non-linear behaviour of InGaAs photodiodes with overfilled illuminationCorredera, Pedro ; Hernanz, María Luisa ; González Herráez, Miguel; Campos Acosta, Joaquín Artículo
openAccess2006Apparent violation of the radiant exposure reciprocity law in interline CCDsFerrero, Alejandro ; Campos Acosta, Joaquín ; Pons Aglio, Alicia Artículo
openAccessCOMUNICACIONES_A_CONGRESOS293722[1].pdf.jpg2010Applying the joint Wigner time-frequency distribution to characterization of ultra-short optical dissipative solitary pulses in the actively mode-locked semiconductor laser with an external single-mode fiber cavityShcherbakov, Alexandre S.; Moreno Zarate, Pedro; Campos Acosta, Joaquín ; Il'n, Yurij V.; Tarasov, Il'ya S.Comunicación de congreso
openAccessSOMI2009_3.pdf.jpg2009APPLYING THE JOINT WIGNER TIME‐FREQUENCY DISTRIBUTION TO CHARACTERIZATION OF TRAIN‐AVERAGE PARAMETERS INHERENT IN THE PULSED LIGHT RADIATION OF SEMICONDUCTOR HETEROLASERSShcherbakov, Alexandre S.; Moreno Zarate, Pedro; Campos Acosta, Joaquín ; Il'n, Yurij V.; Tarasov, Il'ya S.Comunicación de congreso
openAccessORENSE2009-4.pdf.jpg2009Applying the triple correlation functions to characterizing high-frequency repetition trains of picosecond optical pulsesMuñoz Zurita, Ana L.; Shcherbakov, Alexandre S.; Campos Acosta, Joaquín Comunicación de congreso
closedAccessaccesoRestringido.pdf.jpg2012Automatic gonio-spectrophotometer for the absolute measurement of the spectral BRDF at in-out-of-plane and retroreflection geometriesRabal, Ana M.; Ferrero, Alejandro ; Campos Acosta, Joaquín ; Fontecha, J. L.; Pons Aglio, Alicia ; Rubiño, A. M.; Corróns, Antonio Artículo
closedAccessaccesoRestringido.pdf.jpg2014Bidirectional reflectance distribution function of diffuse reflectance standards around the retro-reflection directionRabal, Ana M.; Ferrero, Alejandro ; Campos Acosta, Joaquín ; Pons Aglio, Alicia ; Hernanz, María Luisa Artículo
openAccessBRDF0001.pdf.jpg13-jun-2017BRDF variability of typical diffuse reflectance standards between 380 nm and 1700 nmFerrero, Alejandro ; Strothkämper, C.; Bernad, Berta ; Quast, T.; Hauer, K.-O.; Campos Acosta, Joaquín ; Pons Aglio, Alicia ; Schirmacher, A.Póster
openAccessV3_Calibrating the elements of a multispectral imaging system.pdf.jpgmay-2009Calibrating the elements of a multispectral imaging systemLópez-Álvarez, Miguel A.; Hernández-Andrés, Javier; Romero, Javier; Campos Acosta, Joaquín ; Pons Aglio, Alicia Artículo
openAccessCaracterísticas0001.pdf.jpg3-sep-2015Características fotométricas fundamentales de fuentes de estado sólido orgánicas (OLEDs)Velázquez, J.L. ; Ferrero, Alejandro ; Pons Aglio, Alicia ; Campos Acosta, Joaquín ; Hernanz, María Luisa ; Bernad, Berta ; Borreguero E.Comunicación de congreso
openAccess2015Características fotométricas fundamentales de fuentes de estado sólido orgánicas (OLEDs)Velázquez, J.L. ; Ferrero, Alejandro ; Pons Aglio, Alicia ; Campos Acosta, Joaquín ; Hernanz, María Luisa ; Bernad, Berta ; Borreguero E.Capítulo de libro
openAccessCaracterización0001.pdf.jpg19-jul-2016Caracterización colorimétrica de muestras fluorescentes con un espectrofluorímetro modular con irradiación/emisión direccionalChorro, Elizabet; Perales, Esther, Micó-Vincent, Bárbara; Viqueira, V.; Gómez, Omar; Martínez-Verdú, Francisco M.; Ferrero, Alejandro ; Campos Acosta, Joaquín Comunicación de congreso
closedAccessaccesoRestringido.pdf.jpg2016Challenges in appearance characterization of coatings with effect pigmentsFerrero, Alejandro ; Campos Acosta, Joaquín Capítulo de libro
closedAccessaccesoRestringido.pdf.jpg20-oct-2016Challenges in appearance characterization of coatings with effect pigmentsFerrero, Alejandro ; Campos Acosta, Joaquín Póster
openAccess2009_SPIE_7386_1.pdf.jpg2009Characterization of the time-frequency parameters inherent in the radiation of semiconductor heterolasers using interferometric techniqueShcherbakov, Alexandre S.; Moreno Zarate, Pedro; Campos Acosta, Joaquín ; Il'n, Yurij V.; Tarasov, Il'yaArtículo