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Navegación por Autor Ryu, Y. K.
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Derechos | Preview | Fecha Public. | Título | Autor(es) | Tipo |
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openAccess | 21-oct-2020 | Sub-10 nm patterning of few-layer MoS2 and MoSe2 nanolectronic devices by oxidation scanning probe lithography | Ryu, Y. K. CSIC ORCID; Dago, Arancha I.; He, Y.; Espinosa, Francisco M. CSIC ORCID; López-Elvira, Elena ; Munuera, C. CSIC ORCID ; García García, Ricardo CSIC ORCID | artículo | |
openAccess | sep-2016 | Sub-20 nm patterning of thin layer WSe2 by scanning probe lithography | Dago, Arancha I.; Ryu, Y. K. CSIC ORCID; García García, Ricardo CSIC ORCID | póster de congreso | |
openAccess | 20-oct-2016 | Sub-20 nm patterning of thin layer WSe2 by scanning probe lithography | Dago, Arancha I.; Ryu, Y. K. CSIC ORCID; García García, Ricardo CSIC ORCID | artículo | |
openAccess | 27-may-2016 | Subsurface imaging of silicon nanowire circuits and iron oxide nanoparticles with sub-10 nm spatial resolution | Perrino, Alma P. CSIC; Ryu, Y. K. CSIC ORCID; Amo, Carlos A.; Morales, M. P. CSIC ORCID ; García García, Ricardo CSIC ORCID | artículo |