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Navegación por Autor Ramos-Barrado, J. Ramón
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Derechos | Preview | Fecha Public. | Título | Autor(es) | Tipo |
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closedAccess | oct-2012 | Interface characterization of highly conductive Ga-doped ZnO thin films deposited onto Si wafers | Gabàs, Mercedes; Costa Krämer, José Luis CSIC ORCID ; Landa Cánovas, Ángel CSIC; Herrero, Pilar CSIC; Agulló Rueda, F. CSIC ORCID ; Díaz-Carrasco, P.; Ramos-Barrado, J. Ramón | comunicación de congreso |