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Navegación por Autor Obein, Gaël
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Derechos | Preview | Fecha Public. | Título | Autor(es) | Tipo |
openAccess | | 2019 | ¿Es necesario normalizar la medida de la BRDF? | Rabal, Ana M. CSIC; Ferrero, Alejandro CSIC ORCID; Ged, G.; Bernad, Berta CSIC; Velázquez, J.L. CSIC ORCID CVN; Perales, Esther; Pons Aglio, Alicia CSIC ORCID; Hernanz, María Luisa CSIC; Martínez-Verdú, Francisco; Obein, Gaël; Campos Acosta, Joaquín CSIC ORCID CVN | capítulo de libro |
openAccess | | 25-sep-2019 | ¿Es necesario normalizar la medida de la BRDF? | Rabal, Ana M. CSIC; Ferrero, Alejandro CSIC ORCID; Ged, G.; Bernad, Berta CSIC; Velázquez, J.L. CSIC ORCID CVN; Perales, Esther; Pons Aglio, Alicia CSIC ORCID; Hernanz, María Luisa CSIC; Martínez-Verdú, Francisco; Obein, Gaël; Campos Acosta, Joaquín CSIC ORCID CVN | comunicación de congreso |
closedAccess | | 24-feb-2014 | "Multidimensional reflectometry for industry" (xD-Reflect) an European research project | Höpe, Andreas; Koo, Annette; Martínez Verdú, Francisco; Leloup, Frédéric B.; Obein, Gaël; Wübbeler, Gerd; Campos Acosta, Joaquín CSIC ORCID CVN ; Iacomussi, Paola; Jaanson, P.; Källberg, S.; Smidk, Marek | artículo |