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Navegación por Autor Morilla, Yolanda

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DerechosPreviewFecha Public.TítuloAutor(es)Tipo
openAccessCompact_model.pdf.jpg10-jun-2019A compact model to evaluate the effects of high level c++ code hardening in radiation environmentsReyneri, L. M.; Serrano-Cases, A.; Morilla, Yolanda CSIC ORCID; Cuenca-Asensi, Sergio; Martínez-Álvarez, A.artículo
openAccessA_view_2006.pdf.jpg3-nov-2006A view of the implanted SiC damage by Rutherford backscattering spectroscopy, spectroscopic ellipsometry, and transmission electron microscopyBattistig, Gabor; García López, J. CSIC ORCID; Morilla, Yolanda CSIC ORCIDartículo
closedAccessaccesoRestringido.pdf.jpg13-mar-2008Accelerator-based research activities at "Centro Nacional de Aceleradores", Seville (Spain)Respaldiza, M. A. CSIC ORCID; Ager, F. J. CSIC ORCID; Carmona, Asunción; Ferrer, F. J. CSIC ORCID; García-León, Manuel CSIC ORCID; García López, J. CSIC ORCID; García-Orellana, Isabel; Gómez-Tubío, B. CSIC ORCID; Morilla, Yolanda CSIC ORCID; Ontalba-Salamanca, M. Á.; Ortega-Feliú, I. CSICartículo
openAccessAll chemical.pdf.jpg2009All chemical YBa2Cu3O7 superconducting multilayers: Critical role of CeO2 cap layer flatnessColl, Mariona CSIC ORCID; Gázquez, Jaume CSIC ORCID; Hühne, Ruben; Holzapfel, B.; Morilla, Yolanda CSIC ORCID; García López, J. CSIC ORCID; Pomar, Alberto CSIC ORCID; Sandiumenge, Felip CSIC ORCID; Puig Molina, Teresa CSIC ORCID ; Obradors, Xavier CSIC ORCIDartículo
closedAccessAcceso_restringido.pdf.jpgago-2023Analysis of Kernel Redundancy for Soft Error Mitigation on Embedded GPUsSerrano-Cases, A.; Alcaide, S.; Romero, M. A.; Morilla, Yolanda CSIC ORCID; Cuenca-Asensi, Sergioartículo
openAccessNational_accelerators.pdf.jpg30-mar-2017CNA facility for testing electronicsMorilla, Yolanda CSIC ORCIDcomunicación de congreso
closedAccessaccesoRestringido.pdf.jpg17-mar-2008Complex dielectric function of ion implantation amorphized SiC determined by spectroscopic ellipsometryLohner, T.; García López, J. CSIC ORCID; Morilla, Yolanda CSIC ORCIDartículo
closedAccessaccesoRestringido.pdf.jpg2009Determination of nitrogen partitioning coefficients in superduplex stainless steels by NRA using a nuclear microprobeMuñoz, Concepción; Morilla, Yolanda CSIC ORCID; García López, J. CSIC ORCID; Paúl, A.; Odriozola, José Antonio CSIC ORCIDartículo
closedAccessaccesoRestringido.pdf.jpg2012Developing the IBA equipment to increase the versatility of the CNAMorilla, Yolanda CSIC ORCID; Jiménez-Ramos, M. C. CSIC ORCID; García López, J. CSIC ORCID; Labrador, J. A. CSIC; Palomo, Francisco Rogelio; Ortega-Feliú, I. CSICartículo
closedAccessaccesoRestringido.pdf.jpg2009Dynamic annealing study of SiC epilayers implanted with Ni ions at different temperaturesGarcía López, J. CSIC ORCID; Morilla, Yolanda CSIC ORCID; Battistig, Gaborartículo
closedAccessaccesoRestringido.pdf.jpg2011Early works on the nuclear microprobe for microelectronics irradiation tests at the CEICI (Sevilla, Spain)Palomo, Francisco Rogelio; Morilla, Yolanda CSIC ORCID; Mogollón, J. M.; García López, J. CSIC ORCID; Labrador, J. A. CSIC; Aguirre, M. A.artículo
openAccessEffect_ionizing_Lujan_Martinez.pdf.jpgoct-2023Effect of ionizing radiation on quasi-floating gate transistorsLuján-Martínez, Clara; Hinojo-Montero, José; Muñoz, Fernando; Palomo, Francisco Rogelio; Martín Holgado, Pedro CSIC ORCID; Morilla, Yolanda CSIC ORCIDartículo
openAccessempirierrorpost.pdf.jpg2020Empirical mathematical model of microprocessor sensitivity and early prediction to proton and neutron radiation-induced soft errorsSerrano-Cases, A.; Reyneri, L. M.; Morilla, Yolanda CSIC ORCID; Cuenca-Asensi, Sergio; Martínez-Álvarez, A.artículo
openAccessError_detection.pdf.jpg16-sep-2018Error detection through trace infrastructure in ARM microprocessorsPeña-Fernandez, M.; Lindoso, Almudena; Entrena, Luis A.; García-Valderas, Mario; Morilla, Yolanda CSIC ORCID; Martín Holgado, Pedro CSIC ORCIDpóster de congreso
closedAccessaccesoRestringido.pdf.jpgago-2023Evaluating Reduced Resolution Redundancy for Radiation Hardening in FPGA DesignsGarcía-Astudillo, Luis A.; Lindoso, Almudena; Entrena, Luis A.; Martín, Honorio; García-Valderas, Mario; Martín Holgado, Pedro CSIC ORCID; Morilla, Yolanda CSIC ORCIDartículo
openAccessevaluatvdd.pdf.jpg2020Evaluation of a COTS 65-nm SRAM under 15 MeV protons and 14 MeV neutrons at low VDDRezaei, Mohammadreza; Martín Holgado, Pedro CSIC ORCID; Morilla, Yolanda CSIC ORCID; Franco, Francisco J.; Fabero, Juan Carlos; Mecha, Hortensia; Puchner, Helmut; Hubert, Guillaume; Clemente, Juan Antonioartículo
closedAccessaccesoRestringido.pdf.jpg5-abr-2018Evaluation of the suitability of NEON SIMD microprocessor extensions under proton irradiationLindoso, Almudena; García-Valderas, Mario; Entrena, Luis A.; Morilla, Yolanda CSIC ORCID; Martín Holgado, Pedro CSIC ORCIDartículo
closedAccessaccesoRestringido.pdf.jpg2-oct-2017Evaluation of the suitability of SIMD microprocessor extensions in radiation environmentsLindoso, Almudena; García-Valderas, Mario; Entrena, Luis A.; Morilla, Yolanda CSIC ORCID; Martín Holgado, Pedro CSIC ORCIDpóster de congreso
openAccessFarmer_chamber.pdf.jpg2-oct-2017Farmer chamber response to different filter box and surrounding configurationsMartín Holgado, Pedro CSIC ORCID; Morilla, Yolanda CSIC ORCID; Domínguez, Manuel; Fernandez, G.póster de congreso
closedAccessaccesoRestringido.pdf.jpg2003High energy ion characterization of sputtered AlN thin filmsGarcía López, J. CSIC ORCID; Morilla, Yolanda CSIC ORCID; Respaldiza, M. A. CSIC ORCIDartículo