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Navegación por Autor Mazuelas Esteban, Ángel José

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openAccessApplPhysLett_54_804.pdf.jpg1989Folded acoustic phonons in InAs-AlAs strained-layer superlatticesRecio Segoviano, Miguel CSIC; Armelles Reig, Gaspar CSIC ORCID; Ruiz, A.; Mazuelas Esteban, Ángel José CSICartículo
closedAccessaccesoRestringido.pdf.jpg1992Growth and characterization of ultrathin GaP layer in a GaAs matrix by X-ray interference effectMazuelas Esteban, Ángel José CSIC; Tapfer, L.; Ruiz, A.; Briones Fernández-Pola, Fernando CSIC; Ploog, K.artículo
closedAccessaccesoRestringido.pdf.jpg1994High-resolution electron microscopy and X-ray diffraction characterization of alternately strained (GaAs)n(GaP)m(GaAs)n(InP)m superlattices grown by Atomic Layer Molecular Beam Epitaxy.Ballesteros, Carmen; Gerthsen, D.; Mazuelas Esteban, Ángel José CSIC; Ruiz, A.; Briones Fernández-Pola, Fernando CSICartículo
closedAccess21-may-2001Observation of dislocation generation in highly strained quantum well lasers during operationMazuelas Esteban, Ángel José CSIC; Dotor-Castilla, María Luisa CSIC ORCID; Golmayo, Dolores CSIC; Zeimer, U.; Baumbach, T.; Luebbert, D.; Grenzer, J.; Baruchel, J.artículo
closedAccessaccesoRestringido.pdf.jpg1992Quantum well laser with single InAs monolayer in active regionDotor-Castilla, María Luisa CSIC ORCID; Huertas, P.; Meléndez Sánchez, Juan CSIC ORCID; Mazuelas Esteban, Ángel José CSIC; Garriga, Miquel CSIC ORCID; Golmayo, Dolores CSIC; Briones Fernández-Pola, Fernando CSICartículo
closedAccessaccesoRestringido.pdf.jpg1993Quantum well lasers with InAs monolayers in the active region grown at low temperature by atomic layer molecular beam epitaxyDotor-Castilla, María Luisa CSIC ORCID; Meléndez Sánchez, Juan CSIC ORCID; Huertas, P.; Mazuelas Esteban, Ángel José CSIC; Garriga, Miquel CSIC ORCID; Golmayo, Dolores CSIC; Briones Fernández-Pola, Fernando CSICartículo
openAccessJApplPhys_77_4339.pdf.jpg1995SnTe-doping of GaAs grown by atomic layer molecular beam epitaxyKuball, M.; Cardona, M.; Mazuelas Esteban, Ángel José CSIC; Ploog, K.; Pérez Camacho, J. J.; Silveira, Juan Pedro CSIC; Briones Fernández-Pola, Fernando CSICartículo
openAccessMazuelas, A. et al Phys.Rev.B_73_2006.pdf.jpg12-ene-2006Strain determination in MBE-grown InAs quantum wires on InPMazuelas Esteban, Ángel José CSIC; González Sotos, Luisa CSIC ORCID ; García Martínez, Jorge Manuel CSIC ORCID CVN ; González Díez, Yolanda CSIC ORCID; Schuelli, T.; Priester, C.; Metzger, T. H.comunicación de congreso
closedAccessaccesoRestringido.pdf.jpg1990Strain distribution and structural characterization of short period GaAsGaP strained superlattices by raman and X-Ray scatteringRecio Segoviano, Miguel CSIC; Armelles Reig, Gaspar CSIC ORCID; Ruiz, A.; Mazuelas Esteban, Ángel José CSIC; Briones Fernández-Pola, Fernando CSICartículo
closedAccessaccesoRestringido.pdf.jpg1993Structural and optical characterization of alternately strained GaAs/GaP/GaAs/InP superlattices grown by atomic layer molecular beam epitaxyMazuelas Esteban, Ángel José CSIC; Meléndez Sánchez, Juan CSIC ORCID; Domínguez, Pablo S. CSIC; Garriga, Miquel CSIC ORCID; Ballesteros, Carmen; Gerthsen, D.; Briones Fernández-Pola, Fernando CSICartículo
closedAccessaccesoRestringido.pdf.jpg1993Structural characterization of GaAs/GaP superlattices.Mazuelas Esteban, Ángel José CSIC; Ruiz, A.; Ponce, F. A.; Briones Fernández-Pola, Fernando CSICartículo
closedAccessaccesoRestringido.pdf.jpg1993Structural characterization of highly strained InAs N monolayer lasers and quantum well structures by X-ray diffraction and transmission electron microscopyMazuelas Esteban, Ángel José CSIC; Molina, Sergio I.; Aragón, G.; Meléndez Sánchez, Juan CSIC ORCID; Dotor-Castilla, María Luisa CSIC ORCID; Huertas, P.; Briones Fernández-Pola, Fernando CSICartículo
openAccessJApplPhys_72_2528.pdf.jpg1992X-ray characterization of InAs laser structures grown by molecular beam epitaxyMazuelas Esteban, Ángel José CSIC; Meléndez Sánchez, Juan CSIC ORCID; Dotor-Castilla, María Luisa CSIC ORCID; Huertas, P.; Garriga, Miquel CSIC ORCID; Golmayo, Dolores CSIC; Briones Fernández-Pola, Fernando CSICartículo
closedAccess1992X-ray diffraction determination of critical thickness of InAs and InP on GaAs grown by atomic layer molecular beam epitaxyMazuelas Esteban, Ángel José CSIC; González Sotos, Luisa CSIC ORCID ; Tapfer, L.; Briones Fernández-Pola, Fernando CSICcomunicación de congreso