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Navegación por Autor Ferrero, Alejandro

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openAccess21-jun-2021A facility for measuring the BSSRDFSantafé, Pablo CSIC ORCID; Ferrero, Alejandro CSIC ORCID; Campos Acosta, Joaquín CSIC ORCID CVN ; Tejedor-Sierra, Néstor CSIC; Velázquez, J.L. CSIC ORCID CVNcomunicación de congreso
openAccessFerrero.pdf.jpg2013A single analytical model for sparkle and graininess patterns in texture of effect coatingsFerrero, Alejandro CSIC ORCID; Campos Acosta, Joaquín CSIC ORCID CVN ; Rabal, Ana M. CSIC; Pons Aglio, Alicia CSIC ORCIDartículo
openAccessAccounting for polarization–related.pdf.jpg13-jul-2020Accounting for polarization-related effects in the measurement of the bidirectional reflectance distribution functionCalderón, A.; Ferrero, Alejandro CSIC ORCID; Campos Acosta, Joaquín CSIC ORCID CVN artículo
openAccessAccurate physics-based.pdf.jpg3-oct-2021Accurate physics-based digital reproduction of effect coatingsHuraibat, Khalil; Perales, Esther; Kirchner, Eric; Van der Lans, I.; Ferrero, Alejandro CSIC ORCID; Campos Acosta, Joaquín CSIC ORCID CVN artículo
openAccesspresent capabilities.pdf.jpg5-nov-2020An insight into the present capabilities of national metrology institutes for measuring sparkleFerrero, Alejandro CSIC ORCID; Basic, N.; Campos Acosta, Joaquín CSIC ORCID CVN ; Pastuschek, M.; Perales, E.; Porrovecchio, G.; Šmid, M.; Schirmacher, A.; Velázquez, J.L. CSIC ORCID CVN; Martínez-Verdú, F.M.artículo
openAccess19-jul-2016Análisis cromático de fuentes OLEDsVelázquez, J.L. CSIC ORCID CVN; Ferrero, Alejandro CSIC ORCID; Pons Aglio, Alicia CSIC ORCID; Campos Acosta, Joaquín CSIC ORCID CVN ; Hernanz, María Luisa CSIC; Borreguero, E. CSIC; Bernard, Bertacomunicación de congreso
openAccessAngular_Ferrero_Art_2021.pdf.jpg21-nov-2020Angular and Spectral Bandwidth Considerations in BRDF Measurements of Interference- and Diffraction-Based CoatingsFerrero, Alejandro CSIC ORCID; Campos Acosta, Joaquín CSIC ORCID CVN artículo
openAccessAngular and spectral radiant.pdf.jpg2012Angular and spectral radiant intensity distribution of high brightness white LEDsVillamarín, A.; Ferrero, Alejandro CSIC ORCID; Pons Aglio, Alicia CSIC ORCID; Campos Acosta, Joaquín CSIC ORCID CVN ; Rabal, Ana M. CSIC; Hernanz, María Luisa CSIC; Velázquez, J.L. CSIC ORCID CVN; Corróns, Antonio CSICartículo
openAccess2006Apparent violation of the radiant exposure reciprocity law in interline CCDsFerrero, Alejandro CSIC ORCID; Campos Acosta, Joaquín CSIC ORCID CVN ; Pons Aglio, Alicia CSIC ORCIDartículo
closedAccessaccesoRestringido.pdf.jpg2012Automatic gonio-spectrophotometer for the absolute measurement of the spectral BRDF at in-out-of-plane and retroreflection geometriesRabal, Ana M. CSIC; Ferrero, Alejandro CSIC ORCID; Campos Acosta, Joaquín CSIC ORCID CVN ; Fontecha, J. L. CSIC; Pons Aglio, Alicia CSIC ORCID; Rubiño, A. M.; Corróns, Antonio CSICartículo
openAccess2019Bidirectional Reflectance Distribution Function measurements on Single and Multiple layered Oil Paint StructuresHarteveld, G.; Ferrero, Alejandro CSIC ORCIDcapítulo de libro
closedAccessaccesoRestringido.pdf.jpg25-sep-2019Bidirectional Reflectance Distribution Function measurements on Single and Multiple layered Oil Paint StructuresHarteveld, G.; Ferrero, Alejandro CSIC ORCIDpóster de congreso
closedAccessaccesoRestringido.pdf.jpg2014Bidirectional reflectance distribution function of diffuse reflectance standards around the retro-reflection directionRabal, Ana M. CSIC; Ferrero, Alejandro CSIC ORCID; Campos Acosta, Joaquín CSIC ORCID CVN ; Pons Aglio, Alicia CSIC ORCID; Hernanz, María Luisa CSICartículo
openAccessBRDF0001.pdf.jpg13-jun-2017BRDF variability of typical diffuse reflectance standards between 380 nm and 1700 nmFerrero, Alejandro CSIC ORCID; Strothkämper, C.; Bernad, Berta CSIC; Quast, T.; Hauer, K.O.; Campos Acosta, Joaquín CSIC ORCID CVN ; Pons Aglio, Alicia CSIC ORCID; Schirmacher, A.póster de congreso
openAccess25-sep-2019Byko-Spectra effect light booth simulation for digital rendering toolHuraibat, Khalil; Perales, Esther; Viqueira, V.; Kirchner, Eric; Van der Lans, I.; Ferrero, Alejandro CSIC ORCID; Campos Acosta, Joaquín CSIC ORCID CVN comunicación de congreso
openAccess2019Byko-Spectra effect light booth simulation for digital rendering toolHuraibat, Khalil; Perales, Esther; Viqueira, V.; Kirchner, Eric; Van der Lans, I.; Ferrero, Alejandro CSIC ORCID; Campos Acosta, Joaquín CSIC ORCID CVN capítulo de libro
openAccess2015Características fotométricas fundamentales de fuentes de estado sólido orgánicas (OLEDs)Velázquez, J.L. CSIC ORCID CVN; Ferrero, Alejandro CSIC ORCID; Pons Aglio, Alicia CSIC ORCID; Campos Acosta, Joaquín CSIC ORCID CVN ; Hernanz, María Luisa CSIC; Bernad, Berta CSIC; Borreguero E.capítulo de libro
openAccessCaracterísticas0001.pdf.jpg3-sep-2015Características fotométricas fundamentales de fuentes de estado sólido orgánicas (OLEDs)Velázquez, J.L. CSIC ORCID CVN; Ferrero, Alejandro CSIC ORCID; Pons Aglio, Alicia CSIC ORCID; Campos Acosta, Joaquín CSIC ORCID CVN ; Hernanz, María Luisa CSIC; Bernad, Berta CSIC; Borreguero E.comunicación de congreso
openAccessCaracterización0001.pdf.jpg19-jul-2016Caracterización colorimétrica de muestras fluorescentes con un espectrofluorímetro modular con irradiación/emisión direccionalChorro, Elizabet; Perales, Esther, Micó-Vincent, Bárbara; Viqueira, V.; Gómez, Omar; Martínez-Verdú, F.M.; Ferrero, Alejandro CSIC ORCID; Campos Acosta, Joaquín CSIC ORCID CVN comunicación de congreso
openAccess30-jun-2021Caracterización radiométrica de una cámara CMOS para medidas de reflectancia de materiales translúcidosSantafé, Pablo CSIC ORCID; Ferrero, Alejandro CSIC ORCID; Campos Acosta, Joaquín CSIC ORCID CVN actas de congreso
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