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Navegación por Autor Fernández-Perea, Mónica

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openAccessVidal.pdf.jpg2009Narrowband multilayer coatings for the extreme ultraviolet range of 50-92 nmVidal Dasilva, Manuela; Fernández-Perea, Mónica CSIC; Méndez, José Antonio CSIC; Aznárez, José Antonio CSIC ORCID; Larruquert, Juan Ignacio CSIC ORCIDartículo
openAccessOptical.pdf.jpg2-jun-2009Optical constants of evaporation-deposited silicon monoxide films in the 7.1-800 eV photon energy rangeFernández-Perea, Mónica CSIC; Vidal Dasilva, Manuela; Larruquert, Juan Ignacio CSIC ORCID; Aznárez, José Antonio CSIC ORCID; Méndez, José Antonio CSIC; Gullikson, E.; Aquila, A.; Soufli, R.artículo
openAccess13-abr-2015Physics of corrosion-resistant Mg/SiC multilayer coatings for EUV sourcesSoufli, R.; Fernández-Perea, Mónica CSIC; Walton, Chaska C. CSIC ORCID; Vidal Dasilva, Manuela; Robinson, J. C.; Baker, S. L.; Alameda, J. B.; Rodríguez de Marcos, Luís CSIC ORCID; Méndez, José Antonio CSIC; Larruquert, Juan Ignacio CSIC ORCID; Gullikson, Eric M.comunicación de congreso
openAccessRecubrimientos.pdf.jpgjun-2006Recubrimientos ópticos en el rango espectral entre 50 y 200 nmFernández-Perea, Mónica CSIC; Méndez, José Antonio CSIC; Larruquert, Juan Ignacio CSIC ORCID; Aznárez, José Antonio CSIC ORCIDartículo
openAccessLarruquert.pdf.jpg2011Transmittance and optical constants of erbium films in the 3:25 - 1580 eV spectral rangeLarruquert, Juan Ignacio CSIC ORCID; Frassetto, F.; García-Cortés, Sergio CSIC; Vidal Dasilva, Manuela; Fernández-Perea, Mónica CSIC; Aznárez, José Antonio CSIC ORCID; Méndez, José Antonio CSIC; Nannarone, S.artículo
openAccessFernández.pdf.jpg2011Transmittance and optical constants of Ho films in the 3-1340 eV spectral rangeFernández-Perea, Mónica CSIC; Larruquert, Juan Ignacio CSIC ORCID; Aznárez, José Antonio CSIC ORCID; Méndez, José Antonio CSIC; Poletto, L.; Frassetto, F.; Malvezzi, A. Marco; Bajoni, D.; Giglia, A.; Mahne, N.; Nannarone, S.artículo
openAccessFernández.pdf.jpg2012Triple-wavelength, narrowband Mg/SiC multilayers with corrosion barriers and high peak reflectance in the 25-80 nm wavelength regionFernández-Perea, Mónica CSIC; Soufli, R.; Robinson, J. C.; Rodríguez de Marcos, Luís CSIC ORCID; Méndez, José Antonio CSIC; Larruquert, Juan Ignacio CSIC ORCID; Gullikson, Eric M.artículo
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