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Navegación por Autor Collaert, Nadine
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Derechos | Preview | Fecha Public. | Título | Autor(es) | Tipo |
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openAccess | 17-feb-2009 | Progressive degradation of TiNSiON and TiNHf O2 gate stack triple gate SOI nFinFETs subjected to electrical stress | Rafí, J. M. CSIC ORCID ; Simoen, E.; Mercha, A.; Collaert, Nadine; Campabadal, Francesca CSIC ORCID ; Claeys, C. | artículo |