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Navegación por Autor Bordel, N.
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Derechos | Preview | Fecha Public. | Título | Autor(es) | Tipo |
openAccess | | 2010 | Análisis con resolución nanométrica de recubrimientos ultra-delgados en substratos de silicio, utilizando descargas luminiscentes de radiofrecuencia pulsada con detección por espectrometría de masas de tiempo de vuelo | Bordel, N.; Pisonero, J.; Martín, José Ignacio CSIC ORCID; Quirós, Carlos CSIC ORCID; Hierro-Rodríguez, Aurelio CSIC ORCID; Sanz-Medel, A. | comunicación de congreso |
openAccess | | 2013 | Desarrollo de diagnósticos para plasmas: catalizador de nueva física | McKarthy, Kieran J.; Sola, Antonio; Anabitarte, E.; Bordel, N.; Cotrino, José CSIC ORCID; Gómez-Aleixandre, C. CSIC; Gordillo Vázquez, Francisco J. CSIC ORCID ; Mar, Santiago; Martínez, R.; Rodríguez Prieto, G.; Tanarro, Isabel CSIC ORCID ; Trujillo Bueno, Javier | artículo |
closedAccess | | 2010 | Direct chemical in-depth profile analysis and thickness quantification of nanometer multilayers using pulsed-rf-GD-TOFMS | Valledor, Luis; Pisonero, J.; Bordel, N.; Martín, José Ignacio CSIC ORCID; Quirós, Carlos CSIC ORCID; Tempez, A.; Sanz-Medel, A. | artículo |