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Navegación por Autor Battistig, Gabor
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Derechos | Preview | Fecha Public. | Título | Autor(es) | Tipo |
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openAccess | 3-nov-2006 | A view of the implanted SiC damage by Rutherford backscattering spectroscopy, spectroscopic ellipsometry, and transmission electron microscopy | Battistig, Gabor; García López, J. CSIC ORCID; Morilla, Yolanda CSIC ORCID | artículo | |
closedAccess | 2009 | Dynamic annealing study of SiC epilayers implanted with Ni ions at different temperatures | García López, J. CSIC ORCID; Morilla, Yolanda CSIC ORCID; Battistig, Gabor | artículo |