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Navegación por Autor Andrés, Nieves

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openAccessChanges in the thermal stability.pdf.jpg2011Changes in the thermal stability of 2G HTS wires by local modification of the stabilization layerAngurel, Luis A. CSIC ORCID; Martínez, Elena CSIC ORCID ; Pelegrín, J. CSIC ORCID; Lahoz, Ruth CSIC ORCID ; Fuente, Germán F. de la CSIC ORCID ; Andrés, Nieves; Arroyo, M. Pilarartículo
openAccess20200109_ApplSurfSci_Alaman_Revised_Manuscript UNMARKED.pdf.jpg2020Facile fabrication of microlenses with controlled geometrical characteristics by inkjet printing on nanostructured surfaces prepared by combustion chemical vapour depositionAlamán, Jorge; López-Villuendas, Ana María; López-Valdeolivas, María CSIC; Arroyo, M. Pilar; Andrés, Nieves; Sánchez-Somolinos, Carlos CSIC ORCIDartículo
openAccessiridiscenciasup.pdf.jpg2022Iridiscencia: Una propiedad para evaluar la calidad en la generación de nanoestructuras superficialesPorta-Velilla, Luis CSIC ORCID; Andrés, Nieves; Arroyo, María del Pilar; Castro, Miguel CSIC ORCID; Fuente, Germán F. de la CSIC ORCID ; Angurel, Luis A. CSIC ORCIDcomunicación de congreso
closedAccess16-ago-2006Laser technologies applied to the fabrication and characterization of bulk Bi-2212 superconducting materials for power applicationsAngurel, Luis A. CSIC ORCID; Diez, J. C. CSIC ORCID; Fuente, Germán F. de la CSIC ORCID ; Gimeno, F.; Lera, F. CSIC ORCID; López-Gascón, Clarisa; Martínez, Elena CSIC ORCID ; Mora Alfonso, Mario CSIC ORCID; Navarro, Rafael CSIC ORCID; Sotelo, Andres CSIC ORCID; Andrés, Nieves; Recuero, S.; Arroyo, M. Pilarartículo
closedAccessaccesoRestringido.pdf.jpg2013Possibilities and limitations of digital speckle pattern interferometry in the analysis of corrosion processes in metallic materialsAndres-Arroyo, Ana; Andrés, Nieves; Palero, Virginia R.; Arroyo, M. Pilar; Angurel, Luis A. CSIC ORCIDartículo
openAccess2008_JAP_YBCO interferometry_Angurel.pdf.jpg2008Quench detection in YBa2Cu3O7-δ coated conductors using interferometric techniquesAngurel, Luis A. CSIC ORCID; Martínez, Elena CSIC ORCID ; Lera, F. CSIC ORCID; Recuero, S.; Andrés, Nieves; Arroyo, M. Pilar; Xie, Y. Y.; Selvamanickam, V.artículo
closedAccessrestringido.pdf.jpg2011Two-dimensional quantification of the corrosion process in metal surfaces using digital speckle pattern interferometryAndrés, Nieves; Lobera, Julia; Arroyo, M. Pilar; Angurel, Luis A. CSIC ORCIDartículo
closedAccessARCHIVO COMODIN DIGITAL CSIC.pdf.jpg28-abr-2008Visualisation of environmental degradation in ceramic superconductors using digital speckle photographyRecuero, S.; Bona, María T. CSIC; Andrés, Nieves; Andrés Gimeno, José Manuel CSIC ORCID CVN ; Angurel, Luis A. CSIC ORCIDartículo
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