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openAccess20-jun-2018Effect of Resistive Switching Cycling on the Physical Characteristics of Ni/HfO2/n+-Si RRAM DevicesMuñoz-Gorriz, J.; Acero Leal, María Cruz CSIC ORCID ; González, M. B.; Campabadal, Francesca CSIC ORCID ; Miranda, E.póster de congreso
openAccessEffect of the blistering of ALD Al2O3 films on the silicon.pdf.jpg11-feb-2015Effect of the blistering of ALD Al2O3 films on the silicon surface in Al-Al2O3-Si structuresAcero Leal, María Cruz CSIC ORCID ; Beldarrain, O.; Duch, M.; Zabala, Miguel; González, M. B.; Campabadal, Francesca CSIC ORCID póster de congreso
openAccessElectrical characterization and resistive switching behavior.pdf.jpg14-nov-2018Electrical characterization and resistive switching behavior of HfO2/Al2O3 multilayer stacksMaestro, Marcos; Poblador, Samuel CSIC ORCID ; Zabala, Miguel; Acero Leal, María Cruz CSIC ORCID ; González, M. B.; Campabadal, Francesca CSIC ORCID póster de congreso
openAccessoct-2017Electrical characterization of defects created by ¿-radiation in HfO2-based MIS structuresGarcía, Héctor; Castán, H.; Dueñas, S.; González, M. B.; Campabadal, Francesca CSIC ORCID ; Acero Leal, María Cruz CSIC ORCID ; Sambuco Salomone, L.; Faigón, A.póster de congreso
closedAccessaccesoRestringido.pdf.jpgsep-2018Electrical Characterization of Defects Created by γ-Radiation in HfO2-Based MIS Structures for RRAM ApplicationsGarcía, Héctor; González, M. B.; Mallol, M. M.; Castán, H.; Dueñas, S.; Campabadal, Francesca CSIC ORCID ; Acero Leal, María Cruz CSIC ORCID ; Sambuco Salomone, L.; Faigón, A.artículo
openAccessElectrical characterization of TiN.pdf.jpg7-nov-2017Electrical characterization of TiN/Ti/HfO2/W resistive switching devicesPoblador, Samuel CSIC ORCID ; Acero Leal, María Cruz CSIC ORCID ; Mallol, M. M.; González, M. B.; Campabadal, Francesca CSIC ORCID comunicación de congreso
closedAccessaccesoRestringido.pdf.jpg1995Electrochemical etch-stop characteristics of TMAH:IPA solutionsAcero Leal, María Cruz CSIC ORCID ; Esteve i Tintó, Jaume; Burrer, Chr.; Götz, Andreasartículo
closedAccessaccesoRestringido.pdf.jpg25-sep-1994Electrochemical etch-stop characteristics of TMAH:IPA solutionsAcero Leal, María Cruz CSIC ORCID ; Esteve i Tintó, Jaume; Burrer, Chr.; Götz, Andreascomunicación de congreso
closedAccessaccesoRestringido.pdf.jpg11-may-2011Electromagnetic harvester device for scavenging ambient mechanical energy with slow, variable, and randomness natureFondevilla Sala, Nuria; Serre, Christophe; Pérez Rodríguez, Alejandro; Acero Leal, María Cruz CSIC ORCID ; Cabruja Casas, Enric CSIC ORCID ; Campanella Pineda, Humberto; Esteve i Tintó, Jaumecomunicación de congreso
closedAccessaccesoRestringido.pdf.jpgmay-2000Epitaxial growth of β-SiC on ion-beam synthesized β-SiC: Structural characterizationRomano-Rodríguez, Alberto; Pérez Rodríguez, Alejandro; Serre, Christophe; Morante, Joan Ramón CSIC ORCID; Esteve i Tintó, Jaume; Acero Leal, María Cruz CSIC ORCID artículo
closedAccessaccesoRestringido.pdf.jpg1996Etch-stop behavior of buried layers formed by substoichiometric nitrogen ion implantation into siliconPérez Rodríguez, Alejandro; Romano-Rodríguez, Alberto; Morante, Joan Ramón CSIC ORCID; Acero Leal, María Cruz CSIC ORCID ; Esteve i Tintó, Jaume; Montserrat Martí, Josep CSIC ORCID ; El‐Hassani, A.artículo
openAccessExploring the Multilevel Capabiblity of TIN.pdf.jpg27-jun-2016Exploring the Multilevel Capabiblity of TIN/Ti/HfO2/W RRAM Devices by Pulse ProgrammingGonzález, M. B.; Acero Leal, María Cruz CSIC ORCID ; Calvo Angos, José; Zabala, Miguel; Campabadal, Francesca CSIC ORCID comunicación de congreso
closedAccessaccesoRestringido.pdf.jpg15-feb-2001Ferofluidics componentsCastillejos, E.; Plaza, José Antonio CSIC ORCID ; Esteve i Tintó, Jaume; Acero Leal, María Cruz CSIC ORCID ; Menz, A.; Benecke, W.; García, N.; Higuero, J.; Díez-Caballero Arnau, Teófilocomunicación de congreso
closedAccessaccesoRestringido.pdf.jpg13-sep-1998Ferrofluids on micromechanics: preliminary resultsPérez Castillejo, Raquel; Plaza, José Antonio CSIC ORCID ; Esteve i Tintó, Jaume; Acero Leal, María Cruz CSIC ORCID ; Cané Ballart, Carles; Serra-Mestres, F.comunicación de congreso
closedAccessaccesoRestringido.pdf.jpg12-feb-2003Fiber Optic Based Presure Silicon MicrosensorsGil, J.; Garcés, I.; Acero Leal, María Cruz CSIC ORCID ; Esteve i Tintó, Jaumepóster de congreso
closedAccessaccesoRestringido.pdf.jpgago-2016Investigation of Filamentary Current Fluctuations Features in the High-Resistance State of Ni/HfO2-Based RRAMGonzález, M. B.; Martín-Martínez, Javier; Maestro, Marcos; Acero Leal, María Cruz CSIC ORCID ; Nafría, Montserrat; Campabadal, Francesca CSIC ORCID artículo
openAccess3-abr-2017Investigation of the multilevel capability of TiN/Ti/HfO2/W RRAM devices by pulse programmingGonzález, M. B.; Poblador, Samuel CSIC ORCID ; Mallol, M. M.; Calvo, J.; Zabala, Miguel; Acero Leal, María Cruz CSIC ORCID ; Campabadal, Francesca CSIC ORCID comunicación de congreso
openAccess11-feb-2015Investigation of the resistive switching behavior in Ni/HfO2-based RRAM devicesGonzález, M. B.; Acero Leal, María Cruz CSIC ORCID ; Beldarrain, O.; Zabala, Miguel; Campabadal, Francesca CSIC ORCID comunicación de congreso
closedAccessaccesoRestringido.pdf.jpg5-jun-2001Ion Beam synthesis of n-type doped SiC layersSerre, Christophe; Panknin, D.; Pérez Rodríguez, Alejandro; Romano-Rodríguez, Alberto; Morante, Joan Ramón CSIC ORCID; Kögler, Reinhard; Skorupa, Wolfgang; Esteve i Tintó, Jaume; Acero Leal, María Cruz CSIC ORCID comunicación de congreso
closedAccessaccesoRestringido.pdf.jpg12-dic-2001Ion beam synthesis of n-type doped SiC layersSerre, Christophe; Panknin, D.; Pérez Rodríguez, Alejandro; Romano-Rodríguez, Alberto; Morante, Joan Ramón CSIC ORCID; Kögler, Reinhard; Skorupa, Wolfgang; Esteve i Tintó, Jaume; Acero Leal, María Cruz CSIC ORCID artículo