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DerechosPreviewFecha Public.TítuloAutor(es)Tipo
openAccesstracking and timing.pdf.jpg2016Recent technological developments on LGAD and iLGAD detectors for tracking and timing applicationsPellegrini, Giulio CSIC ORCID; Baselga, M.; Carulla, M.; Fernández Martínez, Patricia; Fernández-García, Marcos CSIC ORCID ; Flores, David; Gallrapp, Christian; Hidalgo, Salvador ; Merlos Domingo, Ángel CSIC ORCID ; Moll, Michael; Quirion, David; Vila, Iván CSIC ORCIDartículo
openAccessresultASIC.pdf.jpg2019Results on proton-irradiated 3D pixel sensors interconnected to RD53A readout ASICDuarte Campderros, J. CSIC ORCID ; Currás, Esteban CSIC ORCID ; Fernández-García, Marcos CSIC ORCID ; Gómez, Gervasio CSIC ORCID ; García, A.; González, Javier G.; Silva Jimenez, E. CSIC; Vila, Iván CSIC ORCID; Jaramillo, R. CSIC ORCID ; Meschini. M.; Dinardo, M. E.; Gennai, S.; Moroni, L.; Demaria, N.; Monteil, E.; Messineo, A.; Hidalgo, Salvador ; Merlos Domingo, Ángel CSIC ORCID ; Pellegrini, Giulio CSIC ORCID; Quirion, David; Manna, M.artículo
openAccesspadetector.pdf.jpg2017Study of gain homogeneity and radiation effects of Low Gain Avalanche Pad DetectorsGallrapp, Christian; Fernández-García, Marcos CSIC ORCID ; Hidalgo, Salvador ; Mateu, I.; Moll, Michael; Otero Ugobono, Sofia; Pellegrini, Giulio CSIC ORCIDartículo
openAccessstudyLGA.pdf.jpg2022Study of ionization charge density-induced gain suppression in LGADsJiménez-Ramos, M. C. CSIC ORCID; García López, J. CSIC ORCID; García-Osuna, Adrián; Vila, Iván CSIC ORCID; Currás, Esteban CSIC ORCID ; Jaramillo, R. CSIC ORCID ; Hidalgo, Salvador ; Pellegrini, Giulio CSIC ORCIDartículo
openAccessstudydepend.pdf.jpg2021Study of the radiation-induced damage mechanism in proton irradiated low gain avalanche detectors and its thermal annealing dependenceWiehe, Moritz; Fernández-García, Marcos CSIC ORCID ; Hidalgo, Salvador ; Moll, Michael; Otero Ugobono, Sofia; Parzefall, Ulrich; Pellegrini, Giulio CSIC ORCID; Ventura Barroso, Ana; Vila, Iván CSIC ORCIDartículo
openAccesshttp___scitation.aip.org&doi=10.1063_1.pdf.jpgsep-2005Thermal calibration procedure for internal infrared laser deflection apparatusPerpiñà, X.; Jordà, Xavier; Madrid, Francesc CSIC; Flores, David; Hidalgo, Salvador ; Vellvehi Hernández, Miquel; Mestres, Narcís CSIC ORCID artículo
openAccesstimingsubstrate.pdf.jpg2023Timing performance and gain degradation after irradiation with protons and neutrons of Low Gain Avalanche Diodes based on a shallow and broad multiplication layer in a float-zone 35μm and 50μm thick silicon substrateCurrás, Esteban CSIC ORCID ; Doblas, Albert; Fernández-García, Marcos CSIC ORCID ; Flores, David; González, Javier G.; Hidalgo, Salvador ; Jaramillo, R. CSIC ORCID ; Moll, Michael; Navarrete Ramos, Efrén CSIC ORCID; Pellegrini, Giulio CSIC ORCID; Vila, Iván CSIC ORCIDartículo
openAccessES2745740A1.pdf.jpg3-mar-2020Transistor de efecto de campo de unión, método de obtención y uso del mismoUllán Comes, Miguel ; Couso, C.; Hidalgo, Salvador ; Flores, David; Quirion, Davidsolicitud de patente
openAccessES2610187B1.pdf.jpg26-abr-2017Transistor tipo jfet y método de obtención del mismoUllán Comes, Miguel ; Fernández-Martínez, Pablo; Hidalgo, Salvador ; Flores, David; Giulio Villani, Enricopatente
openAccessES2610187A1.pdf.jpg26-abr-2017Transistor tipo jfet y método de obtención del mismoUllán Comes, Miguel ; Fernández-Martínez, Pablo; Hidalgo, Salvador ; Flores, David; Giulio Villani, Enricosolicitud de patente