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Title

Influencia de algunos parámetros del procesamiento tiempo-escala sobre la reducción del ruido en END por ultrasonidos

AuthorsLázaro, J. C.; San Emeterio, José Luis; Ramos, Antonio; Fernández Marrón, J. L.
KeywordsNondestructive Testing
Coherent noise reduction
Wavelet transform
Coarse granular microstructure
Mother wavelet
Threshold selection rules
Signal-to-noise input ratio
Issue DateOct-2000
PublisherSociedad Española de Acústica
CitationXXXI Congreso Nacional de Acústica – TecniAcústica 2000. Ultrasonidos ; ULT-17
Abstract[EN] The wavelet transform is used for the reduction of coherent noise, of the type induced in NDT ultrasonic inspections of specimens with coarse granular microstructure. Some influences of processing parameters, such as the mother wavelet, type of thresholding and threshold selection rules are evaluated using synthetic noise registers generated with different values of the signal to noise input ratio.
[ES] En este trabajo se utiliza la Transformada Wavelet para la reducción de ruido coherente, del tipo generado en las inspecciones no destructivas (END) por ultrasonidos de materiales con microestructura granular. Se evalúa la influencia de algunos parámetros de procesado, como el tipo de ondícula madre, el tipo de umbralización y las reglas de selección de umbrales, utilizando registros sintéticos de ruido generados con diferentes valores de la relación señal ruido de entrada.
Description6 pp.-- PACS nr.: 43.35-Zc.-- Comunicación presentada en los siguientes congresos: II Congreso Iberoamericano de Acústica. XXXI Congreso Nacional de Acústica – TecniAcústica 2000. II Jornadas Iberoamericanas de Ultrasonidos. II Congreso Ibérico de Acústica. EAA Symposium on Architectural Acoustics (Madrid, 16-20 Octubre 2000).
Publicado también en número especial de la Revista de Acústica, Vol. XXXI, año 2000.
URIhttp://hdl.handle.net/10261/6946
ISBN84-87985-03-3
Appears in Collections:(IA) Comunicaciones congresos
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