DSpace

Digital.CSIC > Ciencia y Tecnologías Físicas > Instituto de Microelectrónica de Barcelona (IMB-CNM) > (IMB-CNM) Patentes >

Share

EndNote

Open Access item Dispositivo y método para la determinación de características eléctricas de nanocontactos entre una nanoestructura longitudinal y una pista de metal para su conexionado

Authors:Santander Vallejo, Joaquín
Cané Ballart, Carles
Fonseca, Luis
Figueras Costa, Eduard
Gràcia Tortadès, Isabel
Sabaté Vizcarra, María Neus
Torres Herrero, Nuria
Ivanov, Peter
Issue Date:25-May-2012
Citation:ES2381506 A1
Abstract:Dispositivo y método para la determinación de características eléctricas de nanocontactos entre una nanoestructura longitudinal y una pista de metal para su conexionado. El dispositivo y método objeto de la invención permiten determinar la resistencia de contacto de un nanocontacto entre una nanoestructura longitudinal y una pista de metal para caracterizar dicho nanocontacto y poder estimar su conexionado sin dañar la nanoestructura y sin que la medición se vea afectada por la influencia de resistencias parásitas.
URI:http://hdl.handle.net/10261/55814
Appears in Collections:(IMB-CNM) Patentes

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.