DSpace

Digital.CSIC > Ciencia y Tecnologías Físicas > Instituto de Microelectrónica de Sevilla (IMS-CNM) > (IMS-CNM) Patentes >

Share

EndNote

Open Access item Procedimiento adaptativo de calibración dígital concurrente del offset en comparadores en convertidores analógico-digitales (ADCs)

Authors:Ginés, A. J.
Peralías, E.
Rueda, Adoración
Issue Date:2-Feb-2012
Citation:ES2373282 A1
Abstract:El objeto de la presente invención es un procedimiento adaptativo para la calibración del offset de comparadores en convertidores analógico-digitales (ADCs). La técnica que implementa permite ajustar mediante un control digital de bajo coste la tensión umbral efectiva o transición de los comparadores sin afectar al camino natural de señal, y por tanto, sin interrupción de la conversión A/D de la entrada analógica. Se trata, por tanto, de una técnica de calibración concurrente.
URI:http://hdl.handle.net/10261/54173
Appears in Collections:(IMS-CNM) Patentes

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.