Modification of atomic force microscopy tips by deposition of nanoparticles with an aggregatesource

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Título:	Modification of atomic force microscopy tips by deposition of nanoparticles with an aggregatesource
Otros títulos:	Modificación de puntas de microscopía de fuerzas atómicas mediante depósito de nanop artículas con una fuente de agregados
Autor:	Román García, Elisa Leonor CSIC; Martínez-Orellana, Lidia CSIC ORCID ; Díaz Lagos, Mercedes; Huttel, Yves CSIC ORCID
Fecha de publicación:	17-nov-2011
Citación:	WO2011141602 A1
Resumen:	[EN] The present invention relates to a method for covering Atomic Force Microscopy (AFM) tips by depositing a material in the fonn of nanoparticles with an aggregate source. [ES] La presente invención se refiere a un procedimiento para recubrir puntas de AFM (Atomic Forcé Microscopy, microscopio de fuerzas atómicas) mediante el depósito de un material en fonna de nanopartículas con una fuente de agregados.
URI:	http://hdl.handle.net/10261/51169
Aparece en las colecciones:	(ICMM) Patentes