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Title

C60 fullereno modificado por haces de iones de baja energía para prevenir el efecto multipactor

Other TitlesC60 fullereno modified by low-energy ion beams to prevent the multipactor effect
AuthorsMontero, Isabel ; Román García, Elisa Leonor ; Ripalda, José María ; Galán, L.
KeywordsFullereno
Espectroscopía de fotoemisión
Emisión secundaria
Multipactor
Photoemission spectroscopy
Secondary electron emission
Multipactor
Issue DateMar-2005
PublisherSociedad Española de Cerámica y Vidrio
CitationBoletín de la Sociedad Española de Cerámica y Vidrio 44(2): 123-125 (2005)
Abstract[ES] Se ha estudiado la interacción de los iones H2+, N2+, O2+ y Ar+ de baja energía con películas delgadas de fullereno C60. Después del bombardeo iónico, la densidad de estados cerca del nivel de Fermi aumenta de forma apreciable, según se observa en los espectros de fotoemisión obtenidos usando radiación sincrotrón. El bombardeo iónico con una energía de tan sólo 50 eV y una fluencia de 4x10^14 ion/cm2 es suficiente para modificar la simétrica estructura de caja del fullereno y obtener carbono amorfo grafítico. El nitrógeno y el oxígeno se implantan al bombardear con una energía de 50 eV, mientras que la implantación es despreciable en el caso del hidrógeno y argon. Las películas de fullereno poseen un coeficiente máximo de emisión secundaria inferior a 1.3 incluso después de su exposición al aire, el cual disminuye después del bombardeo con iones de N2+ y Ar+.
[EN] C60 fullerene modified by low-energy ion beams of H2+, N2+, O2+ and Ar+ has been studied. After ion bombardment, the photoemission spectra obtained using synchrotron radiation show an increase of the density of states just bellow the Fermi level. Ion bombarment of C60 with 50 eV energy and 4×1014 ion/cm2 fluence is sufficient to modify the cage structure of the fullerene and to obtain graphitic amorphous carbon. Upon bombarding with an energy of 50 eV, implantation of the nitrogen and the oxygen ions was observed, while implantation of the hydrogen and argon ions was small. The maximum secondary emission yield of C60 thin films is lower than 1.3 even after air exposure. A significant improvement on the secondary emission properties can be obtained after bombardment by low-energy Ar+ and N2+ ion beams.
Publisher version (URL)http://boletines.secv.es/es/index.php?id=12&vol=44
URIhttp://hdl.handle.net/10261/4221
ISSN0366-3175
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