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Invitar a revisión por pares abierta
Título

Portamuestras para microanálisis de rayos X con microscopía electrónica de barrido

AutorFortuño Alós, José Manuel CSIC ORCID ; Segura i Noguera, María del Mar CSIC ORCID
Fecha de publicación27-abr-2011
CitaciónES2342706 B1
ResumenPortamuestras para microanálisis de rayos X con microscopía electrónica de barrido. La invención describe un nuevo portamuestras (1) para microanálisis de rayos X que evita interferencias entre las señales de la muestra y las señales del propio portamuestras (1), y que comprende una base (2) sobre la que se apoyan unas columnas (3a, 3b, 3c) que soportan una estructura (4) de soporte, preferentemente un cilindro cuyo extremo superior tiene una tapa (5) con un orificio central (6) sobre la que se coloca una rejilla que contiene la muestra.
URIhttp://hdl.handle.net/10261/40730
Aparece en las colecciones: (ICM) Patentes




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