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dc.contributor.authorOrta, M. Mar-
dc.contributor.authorMillán, Carmen-
dc.contributor.authorMedina, Santiago-
dc.contributor.authorAlba, María D.-
dc.contributor.authorCastro Arroyo, Miguel Ángel-
dc.contributor.authorPavón, Esperanza-
dc.date.accessioned2011-09-28T10:44:04Z-
dc.date.available2011-09-28T10:44:04Z-
dc.date.issued2011-06-27-
dc.identifier.citationES2361989 A1es_ES
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/10261/40186-
dc.description.abstractDispositivo portamuestras para el estudio de interfases mediante fracción de rayos X en modo transmisión configurado para realizar medidas de difracción en modo transmisión para cámaras de temperatura en equipos de difracción de rayos X, para muestras pulverulentas disponibles en modo comercial que se caracteriza porque comprende un cuerpo esencialmente en forma de “T” invertida (1A, 1B, 1C), en donde el cuerpo central (1C) comprende, a su vez, en su parte frontal un orificio (2) configurado para la introducción de un termopar, así como dos ventanas (3, 4); estando además la primera ventana superior (3) configurada para la introducción de muestras y la segunda ventana lateral (4) configurada para la alineación espacial vertical de la muestra mediante la alineación del haz de la propia cámara.es_ES
dc.language.isospaes_ES
dc.rightsopenAccesses_ES
dc.titleDispositivo portamuestras para el estudio de interfasesmediante difracción de rayos X enmodo transmisiónes_ES
dc.typesolicitud de patentees_ES
dc.description.peerreviewedPeer reviewedes_ES
dc.relation.publisherversionhttp://www.oepm.es/pdf/2/36/19/2361989_A1.pdfes_ES
dc.description.assigneeUniversidad de Sevilla O.T.R.I, Consejo Superior de Investigaciones Científicas (España)-
dc.date.priority2009-12-14-
dc.identifier.citationapplication200902324-
dc.relation.patentfamilyES2361989 B1 (2012-01-12)-
dc.description.kindA1 Solicitud de patente con informe sobre el estado de la técnica-
Appears in Collections:(ICMS) Patentes
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