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1openAccess2006Apparent violation of the radiant exposure reciprocity law in interline CCDsFerrero, Alejandro ; Campos Acosta, Joaquín  ; Pons Aglio, Alicia artículo
2closedAccess25-Nov-2009How the method of choice to assess liquid crystal tunable filters’bandpass function impacts the spectroradiometric measurements performed with themPeralta, Celia; Pons Aglio, Alicia ; Campos Acosta, Joaquín  artículo
3openAccess87.pdf.jpg15-Oct-2004Comparación de Instrumentos de Medida del ColorCampos Acosta, Joaquín  ; Rubiño López, M.; Castillo Rubí, F. J.; Pons Aglio, Alicia artículo
4closedAccessaccesoRestringido.pdf.jpg2003Anomalous non-linear behaviour of InGaAs photodiodes with overfilled illuminationCorredera, Pedro ; Hernanz, María Luisa ; González Herráez, Miguel; Campos Acosta, Joaquín  artículo
5openAccess303.pdf.jpg12-Mar-2008Variación de las coordenadas de color de placas de cartón-yeso con el ángulo de observaciónAlonso, Ana Paula; Campos Acosta, Joaquín  ; González, Rafael; Pons Aglio, Alicia ; Corróns, Antonio artículo
6closedAccessaccesoRestringido.pdf.jpg2012Automatic gonio-spectrophotometer for the absolute measurement of the spectral BRDF at in-out-of-plane and retroreflection geometriesRabal, Ana M.; Ferrero, Alejandro ; Campos Acosta, Joaquín  ; Fontecha, J. L.; Pons Aglio, Alicia ; Rubiño, A. M.; Corróns, Antonio artículo
7openAccesscalibracionCCDmetro.pdf.jpg23-Mar-2006Low-uncertainty absolute radiometric calibration of a CCDFerrero, Alejandro ; Campos Acosta, Joaquín  ; Pons Aglio, Alicia artículo
8openAccess245.pdf.jpg2007Medida de la reflectancia de fotodiodos de InGaAs/InPMuñoz Zurita, Ana Luz; Campos Acosta, Joaquín  ; Pons Aglio, Alicia ; Shcherbakovta, A.artículo
9openAccess225.pdf.jpg2006Desarrollo de un nuevo patrón de luminancia en el Instituto de Física Aplicada (CSIC)Fontecha, Jose Luis; Corróns, Antonio ; Campos Acosta, Joaquín  ; Pons Aglio, Alicia artículo
10openAccess2009_SPIE_7386_1.pdf.jpg2009Characterization of the time-frequency parameters inherent in the radiation of semiconductor heterolasers using interferometric techniqueShcherbakov, Alexandre S.; Moreno Zarate, Pedro; Campos Acosta, Joaquín  ; Il'n, Yurij V.; Tarasov, Il'yaartículo
11closedAccessaccesoRestringido.pdf.jpg2003Spectral responsivity scale in the visible range based on single silicon photodiodesCampos Acosta, Joaquín  ; Pons Aglio, Alicia ; Corredera, Pedro artículo
12openAccessPamplona 2009.pdf.jpg2009Gonio-Espectrofotómetro para Medida de BSDF con Baja IncertidumbreRabal, A. M.; Fontecha, J. L.; Ferrero, Alejandro ; Pons Aglio, Alicia ; Campos Acosta, Joaquín  ; Corróns, Antonio artículo
13openAccess2009_SPIE_7386.pdf.jpg2009Initial stage of the active mode-locking in semiconductor heterolasersShcherbakov, Alexandre S.; Kosarsky, Alexey Yu; Campos Acosta, Joaquín  ; Moreno Zarate, Pedro; Mansurova, Svetlanaartículo
14openAccessV3_Calibrating the elements of a multispectral imaging system.pdf.jpgMay-2009Calibrating the elements of a multispectral imaging systemLópez-Álvarez, Miguel A.; Hernández-Andrés, Javier; Romero, Javier; Campos Acosta, Joaquín  ; Pons Aglio, Alicia artículo
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