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1openAccessPreliminary results.pdf.jpg9-may-2018Preliminary results of feasibility of self-calibration of silicon pn photodiodes at room temperature using temperature sensorsBorreguero, E. CSIC; Tang, C. K.; Gran, J.; Pons Aglio, Alicia CSIC ORCID; Campos Acosta, Joaquín CSIC ORCID CVN artículo
2closedAccessaccesoRestringido.pdf.jpg1-mar-2017Multilateral spectral radiance factor scale comparisonStrothkämper, C.; Ferrero, Alejandro CSIC ORCID; Koo, A.; Jaanson, P.; Ged, G.; Obein, G.; Källberg, S.; Audenaert, J.; Leloup, F. B.; Martínez-Verdú, F.M.; Perales, E.; Schirmacher, A.; Campos Acosta, Joaquín CSIC ORCID CVN artículo
3closedAccessaccesoRestringido.pdf.jpg2014Reflectance properties analysis of mineral based mortars for renders: Research of their energy performanceBarbero-Barrera, M. M.; Campos Acosta, Joaquín CSIC ORCID CVN ; Neila-González, F.J.artículo
4closedAccessaccesoRestringido.pdf.jpg2010Determining the time-frequency parameters of low-power bright picosecond optical pulses by using the interferometric techniqueShcherbakov, Alexandre S.; Muñoz Zurita, Ana Luz; Kosarsky, Alexey Yu; Campos Acosta, Joaquín CSIC ORCID CVN artículo
5openAccess2015Influence of the effect pigment size on the sparkle detection distanceGómez, O.; Perales, E.; Chorro, Elizabet; Viqueira, V.; Martínez-Verdú, F.M.; Ferrero, Alejandro CSIC ORCID; Campos Acosta, Joaquín CSIC ORCID CVN artículo
6openAccessDeviation of white diffuse.pdf.jpg9-ago-2019Deviation of white diffuse reflectance standards from perfect reflecting diffuser at visible and near-infrared spectral rangesBernad, Berta CSIC; Ferrero, Alejandro CSIC ORCID; Strothkämper, C.; Campos Acosta, Joaquín CSIC ORCID CVN ; Pons Aglio, Alicia CSIC ORCID; Quast, T.; Hauer, K.O.; Schirmacher, A.artículo
7closedAccessaccesoRestringido.pdf.jpg2000Invariant pattern recognition against defocus based on subband decomposition of the filterVargas, A.; Campos Acosta, Joaquín CSIC ORCID CVN ; Navarro, Rafael CSIC ORCIDartículo
8openAccess22-feb-2016Thermodynamic temperature assignment to the point of inflection of the melting curve of high-temperature fixed pointsWoolliams, E. R.; Anhalt, K.; Ballico, M.; Bloembergen, P.; Bourson, F.; Briaudeau, S.; Campos Acosta, Joaquín CSIC ORCID CVN ; Cox, M. G.; Campo, D. del; Dong, W.; Dury, M. R.; Gavrilov, V.; Grigoryeva, I.; Hernanz, María Luisa CSIC; Yoon, H. W.; Yuan, Z.artículo
9closedAccessaccesoRestringido.pdf.jpg2014Bidirectional reflectance distribution function of diffuse reflectance standards around the retro-reflection directionRabal, Ana M. CSIC; Ferrero, Alejandro CSIC ORCID; Campos Acosta, Joaquín CSIC ORCID CVN ; Pons Aglio, Alicia CSIC ORCID; Hernanz, María Luisa CSICartículo
10closedAccessaccesoRestringido.pdf.jpg1999Parallel implementation of the optical Gabor-wavelet transformNavarro, Rafael CSIC ORCID; Vargas, A.; Campos Acosta, Joaquín CSIC ORCID CVN artículo
11closedAccessaccesoRestringido.pdf.jpg16-jun-2022Final report on the CCPR Key Comparison CCPR-K3.2014 Luminous IntensityGaertner, A.A.; Côté, É.; Campos Acosta, Joaquín CSIC ORCID CVN ; Obein, G.; Blattner, P.; Schafer, R.; Hui, L.; Xiaomei, J.; Miller, C.; Zong, Y.; Atkinson, E.; Thorvaldson, E.; Kinoshita, K.; Sieberhagen, R.; Rabe, I.; Goodman, T.; Scott, B.; Sperling, A.; Lindner, D.; Khlevnoy, B.; Ivashin, E.artículo
12closedAccessaccesoRestringido.pdf.jpg27-ene-2015Optical transmission properties of Pentelic and Paros marbleWeigand, Rosa; García Pastor, Pablo A. CSIC; Campos Acosta, Joaquín CSIC ORCID CVN ; Storch de Gracia, Jacoboartículo
13openAccessGoniochromatic assessment.pdf.jpg22-jul-2020Goniochromatic assessment of gray scales for color changeFerrero, Alejandro CSIC ORCID; Bernad, Berta CSIC; Campos Acosta, Joaquín CSIC ORCID CVN ; Richard, N.; Fernández-Maloigne, C.; Melgosa, Manuelartículo
14openAccessReal-time accurate.pdf.jpg13-ene-2019Real-time accurate rendering of color and texture of car coatingsKirchner, Eric; Van der Lans, I.; Koechhoven, Pim; Huraibat, Khalil; Martínez-Verdú, F.M.; Perales, Esther; Ferrero, Alejandro CSIC ORCID; Campos Acosta, Joaquín CSIC ORCID CVN artículo
15closedAccessaccesoRestringido.pdf.jpg2-abr-2017Photocatalytic behavior of colored mortars containing TiO2 and iron oxide based pigmentsLaplaza, A.; Jiménez-Relinque, Eva CSIC ORCID; Campos Acosta, Joaquín CSIC ORCID CVN ; Castellote, Marta CSIC ORCIDartículo
16openAccessFundamental scattering quantities.pdf.jpg22-dic-2020Fundamental scattering quantities for the determination of reflectance and transmittanceFerrero, Alejandro CSIC ORCID; Frisvad, J.R.; Simonot, L.; Santafé, Pablo CSIC ORCID; Schirmacher, A.; Campos Acosta, Joaquín CSIC ORCID CVN ; Hebert, M.artículo
17openAccessPrimary facility for traceable measurement of.pdf.jpg5-oct-2021Primary facility for traceable measurement of the BSSRDFSantafé, Pablo CSIC ORCID; Ferrero, Alejandro CSIC ORCID; Tejedor-Sierra, Néstor CSIC; Campos Acosta, Joaquín CSIC ORCID CVN artículo
18openAccessmay-2022Tecnologías de enfriamiento radiante diurno: el reto de la caracterización de los materiales y de la evaluación de su rendimiento de enfriamientoPérez, Gloria CSIC ORCID; Pattelli, Lorenzo; Jaramillo, Jualiana; Campos Acosta, Joaquín CSIC ORCID CVN ; Martín-Consuegra, Fernando CSIC ORCID ; Alonso, Carmen; Frutos, Borja; Guerrero, Anaartículo
19closedAccessaccesoRestringido.pdf.jpg2003Anomalous non-linear behaviour of InGaAs photodiodes with overfilled illuminationCorredera, Pedro CSIC ORCID; Hernanz, María Luisa CSIC; González-Herráez, Miguel CSIC ORCID; Campos Acosta, Joaquín CSIC ORCID CVN artículo
20openAccess2022¿Qué es el nuevo Sistema Internacional de Unidades de medida?Campos Acosta, Joaquín CSIC ORCID CVN reseña
21closedAccessaccesoRestringido.pdf.jpg27-abr-2015Visibility of sparkle in metallic paintsKirchner, E.; Van der Lans, I.; Perales Romero, E.; Martínez-Verdú, F.M.; Campos Acosta, Joaquín CSIC ORCID CVN ; Ferrero, Alejandro CSIC ORCIDartículo
22openAccessFerrero.pdf.jpg2012Spectral and geometrical variation of the bidirectional reflectance distribution function of diffuse reflectance standardsFerrero, Alejandro CSIC ORCID; Rabal, Ana M. CSIC; Campos Acosta, Joaquín CSIC ORCID CVN ; Pons Aglio, Alicia CSIC ORCID; Hernanz, María Luisa CSICartículo
23openAccessPreliminary measurement scales.pdf.jpg25-feb-2021Preliminary measurement scales for sparkle and graininessFerrero, Alejandro CSIC ORCID; Perales, E.; Basic, N.; Pastuschek, M.; Porrovecchio, G.; Schirmacher, A.; Velázquez, J.L. CSIC ORCID CVN; Campos Acosta, Joaquín CSIC ORCID CVN ; Martínez-Verdú, F.M.; Šmid, M.; Linduska, P.; Dauser, T.; Blattner, P.artículo
24openAccessVisual validation.pdf.jpg5-feb-2021Visual validation of the appearance of chromatic objects rendered from spectrophotometric measurementsHuraibat, Khalil; Perales, Esther; Kirchner, Eric; Van der Lans, I.; Ferrero, Alejandro CSIC ORCID; Campos Acosta, Joaquín CSIC ORCID CVN artículo
25openAccessFerrero.pdf.jpg2013Spectral BRDF-based determination of proper measurement geometries to characterize color shift of special effect coatingsFerrero, Alejandro CSIC ORCID; Rabal, Ana M. ; Campos Acosta, Joaquín CSIC ORCID CVN ; Martínez-Verdú, Francisco; Chorro, Elizabet; Perales, E.; Pons Aglio, Alicia CSIC ORCID; Hernanz, María Luisa CSICartículo
26openAccessRabal.pdf.jpg2011Gonio-spectrophotometer for bidirectional scattering distribution function (BSDF) measurementsRabal, Ana M. CSIC; Ferrero, Alejandro CSIC ORCID; Fontecha, J. L. CSIC; Pons Aglio, Alicia CSIC ORCID; Campos Acosta, Joaquín CSIC ORCID CVN ; Corróns, Antonio CSICartículo
27openAccessCustomizing plasmonic.pdf.jpg9-jun-2017Customizing plasmonic diffraction patterns by laser interferencePeláez, Ramón J. CSIC ORCID; Ferrero, Alejandro CSIC ORCID; Škeren, M.; Bernard, Berta; Campos Acosta, Joaquín CSIC ORCID CVN artículo
28closedAccessaccesoRestringido.pdf.jpg2012Automatic gonio-spectrophotometer for the absolute measurement of the spectral BRDF at in-out-of-plane and retroreflection geometriesRabal, Ana M. CSIC; Ferrero, Alejandro CSIC ORCID; Campos Acosta, Joaquín CSIC ORCID CVN ; Fontecha, J. L. CSIC; Pons Aglio, Alicia CSIC ORCID; Rubiño, A. M.; Corróns, Antonio CSICartículo
29openAccessFerrero.pdf.jpg2012Variables separation of the spectral BRDF for better understanding color variation in special effect pigment coatingsFerrero, Alejandro CSIC ORCID; Rabal, Ana M. CSIC; Campos Acosta, Joaquín CSIC ORCID CVN ; Pons Aglio, Alicia CSIC ORCID; Hernanz, María Luisa CSICartículo
30closedAccessaccesoRestringido.pdf.jpg28-may-2014Spatial characterization of cameras for low-uncertainty radiometric measurementsFerrero, Alejandro CSIC ORCID; López Valero, Manuela; Campos Acosta, Joaquín CSIC ORCID CVN ; Sperling, A.artículo
31closedAccessaccesoRestringido.pdf.jpg1996Realization of the candela from a partial filtering V (λ) detector traceable to a cryogenic radiometerCampos Acosta, Joaquín CSIC ORCID CVN ; Corróns, Antonio CSIC; Pons Aglio, Alicia CSIC ORCID; Corredera, Pedro CSIC ORCIDartículo
172openAccessAngular_Ferrero_Art_2021.pdf.jpg21-nov-2020Angular and Spectral Bandwidth Considerations in BRDF Measurements of Interference- and Diffraction-Based CoatingsFerrero, Alejandro CSIC ORCID; Campos Acosta, Joaquín CSIC ORCID CVN artículo
173openAccessIntercomparisonBRDF6.pdf.jpg14-jun-2016Consistency analysis of multidimensional gonio-spectrophotometric measurements in interlaboratory comparisonsFerrero, Alejandro CSIC ORCID; Campos Acosta, Joaquín CSIC ORCID CVN ; Bernad, Berta CSIC; Pons Aglio, Alicia CSIC ORCID; Hernanz, María Luisa CSIC; Martínez-Verdú, F.M.; Höpe, Andreasartículo
174openAccessintensidad luminosa.pdf.jpg2021¿Es la intensidad luminosa la magnitud más fundamental para medir la luz?Ferrero, Alejandro CSIC ORCID; Campos Acosta, Joaquín CSIC ORCID CVN artículo
175closedAccessaccesoRestringido.pdf.jpg24-feb-2014Towards a better understanding of the color shift of effect coatings by densely sampled spectral BRDF measurementFerrero, Alejandro CSIC ORCID; Bernad, Berta CSIC; Campos Acosta, Joaquín CSIC ORCID CVN ; Martínez-Verdú, F.M.; Perales, Esther; Lans, Ivo van der; Kirchner, Ericartículo
176openAccesspresent capabilities.pdf.jpg5-nov-2020An insight into the present capabilities of national metrology institutes for measuring sparkleFerrero, Alejandro CSIC ORCID; Basic, N.; Campos Acosta, Joaquín CSIC ORCID CVN ; Pastuschek, M.; Perales, E.; Porrovecchio, G.; Šmid, M.; Schirmacher, A.; Velázquez, J.L. CSIC ORCID CVN; Martínez-Verdú, F.M.artículo
177openAccessAccounting for polarization–related.pdf.jpg13-jul-2020Accounting for polarization-related effects in the measurement of the bidirectional reflectance distribution functionCalderón, A.; Ferrero, Alejandro CSIC ORCID; Campos Acosta, Joaquín CSIC ORCID CVN artículo
178openAccessMise.pdf.jpg20-may-2016Mise en pratique for the definition of the candela and associated derived units for photometric and radiometric quantities in the International System of Units (SI)Zwinkels, J.; Sperling, A.; Goodman, T.; Campos Acosta, Joaquín CSIC ORCID CVN ; Ohno, Y.; Rastello, M.L.; Stock, M.; Woolliams, E.artículo
179openAccessCampos.pdf.jpg1987Description of precision colorimeterCampos Acosta, Joaquín CSIC ORCID CVN ; Pons Aglio, Alicia CSIC ORCID; Corróns, Antonio CSICartículo
180closedAccessaccesoRestringido.pdf.jpg9-ene-2017Evaluation of uncertainties for CIELAB color coordinatesWübbeler, Gerd; Campos Acosta, Joaquín CSIC ORCID CVN ; Elster, Clemensartículo
181closedAccessaccesoRestringido.pdf.jpg2014Color representation and interpretation of special effect coatingsFerrero, Alejandro CSIC ORCID; Perales, E.; Rabal, Ana M. CSIC; Campos Acosta, Joaquín CSIC ORCID CVN ; Martínez-Verdú, F.M.; Chorro, Elizabet; Pons Aglio, Alicia CSIC ORCIDartículo
182openAccess5-ene-2016Zernike polynomials for photometric characterization of LEDsVelázquez, J.L. CSIC ORCID CVN; Ferrero, Alejandro CSIC ORCID; Pons Aglio, Alicia CSIC ORCID; Campos Acosta, Joaquín CSIC ORCID CVN ; Hernanz, María Luisa CSICartículo
183openAccessPreliminary results.pdf.jpg21-nov-2017Preliminary results of an analytical model to determine the internal quantum efficiency of a predictable quantum efficient detectorBorreguero, E. CSIC; Ferrero, Alejandro CSIC ORCID; Tang, C. K.; Gran, J.; Pons Aglio, Alicia CSIC ORCID; Campos Acosta, Joaquín CSIC ORCID CVN ; Hernanz, María Luisa CSICartículo
184openAccess1-oct-2015Fast and accurate 3D rendering of automotive coatingsKirchner, Eric; Lans, Ivo van der; Ferrero, Alejandro CSIC ORCID; Campos Acosta, Joaquín CSIC ORCID CVN ; Martínez-Verdú, F.M.; Perales, Estherartículo
185openAccessIndex for the evaluation.pdf.jpg5-jul-2018Index for the evaluation of the general photometric performance of photometersFerrero, Alejandro CSIC ORCID; Velázquez, J.L. CSIC ORCID CVN; Pons Aglio, Alicia CSIC ORCID; Campos Acosta, Joaquín CSIC ORCID CVN artículo
186closedAccessaccesoRestringido.pdf.jpg2003Spectral responsivity scale in the visible range based on single silicon photodiodesCampos Acosta, Joaquín CSIC ORCID CVN ; Pons Aglio, Alicia CSIC ORCID; Corredera, Pedro CSIC ORCIDartículo
187openAccessAccurate physics-based.pdf.jpg3-oct-2021Accurate physics-based digital reproduction of effect coatingsHuraibat, Khalil; Perales, Esther; Kirchner, Eric; Van der Lans, I.; Ferrero, Alejandro CSIC ORCID; Campos Acosta, Joaquín CSIC ORCID CVN artículo
188closedAccessaccesoRestringido.pdf.jpg25-jul-2017Performance of Different Light Sources for the Absolute Calibration of Radiation ThermometersMartín, M. J.; Mantilla, J.M.; Campo, D. del; Hernanz, María Luisa CSIC; Pons Aglio, Alicia CSIC ORCID; Campos Acosta, Joaquín CSIC ORCID CVN artículo
189closedAccessaccesoRestringido.pdf.jpg2-dic-2020Methodologies and uncertainty estimates for T - T 90measurements over the temperature range from 430 K to 1358 K under the auspices of the EMPIR InK2 projectMcEvoy, H.C.; Lowe, D.H.; Underwood, R.; Podesta, M. de; Machin, G.; Martín, M. J.; Mantilla, J.M.; Campos Acosta, Joaquín CSIC ORCID CVN ; Sadli, M.; Bourson, F.; Briaudeau, S.; Salim, S.G.R.; Anhalt, K.; Waehmer, M.; Taubert, D.R.; Feng, X.J.; Zhang, J.T.; Lu, X.F.; Yoon, H.artículo
190openAccessoe-26-23-30116.pdf.jpg1-nov-2018Definition of a measurement scale of graininess from reflectance and visual measurementsFerrero, Alejandro CSIC ORCID; Velázquez, J.L. CSIC ORCID CVN; Perales, E.; Campos Acosta, Joaquín CSIC ORCID CVN ; Martínez Verdú, Francisco M.artículo
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