DSpace

Digital.CSIC > Ciencia y Tecnologías Físicas > Instituto de Microelectrónica de Sevilla (IMS-CNM) > (IMS-CNM) Patentes >

Share

EndNote

Open Access item Adaptive method for concurrent digital calibration of the offset in comparators in analog-to-digital converters (adcs)

Other Titles:Procedimiento adaptativo de calibración digital concurrente del offset en comparadores en convertidores analógico-digitales (adcs)
Authors:Ginés, A. J.
Peralías, E.
Rueda, Adoración
Issue Date:18-Nov-2010
Citation:WO2010130866 A1
Abstract:[EN] The invention relates to an adaptive method for calibrating the offset of comparators in analog-to-digital converters (ADCs). The technique used enables the effective threshold voltage or transition of the comparators to be adjusted by means of a low-cost digital control, without affecting the natural path of the signal, and therefore without interrupting the A/D conversion of the analog input. Said method is therefore a concurrent calibration technique.p
[ES] El objeto de la presente invención es un procedimiento adaptativo para la calibración del offset de comparadores en convertidores analógico-digitales (ADCs). La técnica que implementa permite ajustar mediante un control digital de bajo coste la tensión umbral efectiva o transición de los comparadores sin afectar al camino natural de señal, y por tanto, sin interrupción de la conversión A/D de la entrada analógica. Se trata, por tanto, de una técnica de calibración concurrente.f
URI:http://hdl.handle.net/10261/33891
Appears in Collections:(IMS-CNM) Patentes

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.