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http://hdl.handle.net/10261/33828COMPARTIR / EXPORTAR:
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| Título: | Experimental evidence of the structure of annihilation of antiphase boundaries in GaAs on Si |
Autor: | Molina, Sergio I.; Aragón, G.; González Díez, Yolanda CSIC ORCID; González Sotos, Luisa CSIC ORCID ; Briones Fernández-Pola, Fernando CSIC; Ponce, F. A.; García, Rafael | Fecha de publicación: | ene-1993 | Editor: | Elsevier | Citación: | Materials Letters 15(5-6): 353-355 (1993) | Resumen: | A high-resolution electron microscopy (HREM) study on antiphase boundaries in GaAs grown on Si is presented. HREM images of two close antiphase boundaries appearing mainly on the {110} planes which abruptly disappear suggest some ideas on the mechanisms of annihilation of these defects. | Descripción: | 3 páginas, 2 figuras. | Versión del editor: | http://dx.doi.org/10.1016/0167-577X(93)90094-E | URI: | http://hdl.handle.net/10261/33828 | DOI: | 10.1016/0167-577X(93)90094-E | ISSN: | 0167-577X |
| Aparece en las colecciones: | (IMN-CNM) Artículos |
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