Sample holder for x-ray microanalysis using scanning electron microscopy

Abstract

[EN] The invention relates to a novel sample holder (1) for X-ray microanalysis, which prevents interference between the signals from the sample and the signals from the sample holder (1) and which incIudes a base (2) bearing columns (3a, 3b, 3c) that support a bearing structure (4), preferablya cylinder with an upper lid (5) provided with a central opening (6), on which a grating containing the sample is placed.

[ES] La invención describe un nuevo portamuestras (1) para microanálisis de rayos X que evita interferencias entre las señales de la muestra y las señales del propio portamuestras (1), y que comprende una base (2) sobre la que se apoyan unas columnas (3a, 3b, 3c) que soportan una estructura (4) de soporte, preferentemente un cilindro cuyo extremo superior tiene una tapa (5) con un orificio central (6) sobre la que se coloca una rejilla que contiene la muestra.