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Title: Portamuestras para microanálisis de rayos X con microscopía electrónica de barrido.
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Authors: Fortuño Alos, José Manuel
Segura i Noguera, María del Mar
Issue Date: 12-Jul-2010
Citation: ES 2 342 706 A1
Abstract: Portamuestras para microanálisis de rayos X con microscopía electrónica de barrido. La invención describe un nuevo portamuestras (1) para microanálisis de rayos X que evita interferencias entre las señales de la muestra y las señales del propio portamuestras (1), y que comprende una base (2) sobre la que se apoyan unas columnas (3a, 3b, 3c) que soportan una estructura (4) de soporte, preferentemente un cilindro cuyo extremo superior tiene una tapa (5) con un orificio central (6) sobre la que se coloca una rejilla que contiene la muestra.
Description: Fecha de solicitud:12.07.2010.- Titular: Consejo Superior de Investigaciones Científicas (CSIC)
URI: http://hdl.handle.net/10261/31826
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