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Title

Device and method for measuring parameters of periodic oscillatory signals.

Other TitlesDispositivo y procedimiento para la medida de parametros de señales oscilatorias periódicas.
AuthorsVazquez García de la Vega, Diego; Léger, G. ; Huertas Sanchez, Gloria; Huertas, José Luis
Issue Date30-May-2003
CitationWO 03/044551 A1
Abstract[EN]The invention relates to a device and method for measuring parameters of periodic oscillatory signals. Said device comprises a sigma-delta modulator and a zero-crossing detector. The inventive method employs the aforementioned device and comprises the following steps: a) the periodic oscillatory signal, of which the parameters are to be measured, is introduced into the sigma-delta modulator and into the zero-crossing detector; b) said signal is coded in the sigma-delta modulator into pulses of ones and zeros and a synchronisation signal is generated using the zero-crossing detector; and c) the signals obtained in step b) are processed in a synchronised manner using digital processing circuits. The invention is suitable for use in the field of analogue and mixed integrated circuits. More specifically, the invention can be used to evaluate and test analogue signals by extracting oscillatory parameters using digital technology.[ES] El objeto de la presente invención es un dispositivo para la medida de parámetros de señales oscilatorias periódicas que comprende un modulador sigma-delta y un detector de cruce por cero. Constituye otro objeto de la presente invención un procedimiento para la medida de parámetros de señales oscilatorias periódicas mediante dicho dispositivo que comprende las etapas de: a) introducción en el modulador sigma-delta y en el detector de cruce por cero de la señal oscilatoria periódica cuyos parámetros se van a medir b) codificación de dicha señal en el modulador sigma-delta en pulsos de unos y ceros y generación de una señal de sincronización mediante el detector de cruce por cero c) procesado sincronizado de las señales obtenidas en la etapa anterior mediante circuitos de procesado digital. La invención es de aplicación en el campo de los circuitos integrados analógicos y mixtos, y más concretamente, con la evaluación y test de señales analógicas mediante la extracción de parámetros oscilatorios usando técnicas digitales.
DescriptionFecha de solicitud: 15.11.2002.- Titulares:Consejo Superior de Investigaciones Científicas (CSIC).- Universidad de Sevilla.
URIhttp://hdl.handle.net/10261/31214
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