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| Título: | (Some) Open problems to incorporate BIST in complex heterogeneous integrated systems |
Autor: | Barragán, Manuel J. CSIC ORCID; Huertas, Gloria CSIC ORCID; Rueda, Adoración CSIC ORCID; Huertas-Díaz, J. L. CSIC | Fecha de publicación: | ene-2010 | Editor: | Institute of Electrical and Electronics Engineers | Citación: | Fifth IEEE International Symposium on Electronic Design, Test and Application: 8-13 (2010-DELTA'10) | Resumen: | This paper presents an overview of test techniques that offer promising features when Built-In-Self-Test (BIST) must be applied to complex integrated systems including analog, mixed-signal and RF parts. Emphasis is on techniques exhibiting a good trade-off between test requirements (basically in terms of signal accuracy and frequency) and test quality. | Descripción: | Comunicación presentada al DELTA 10 celebrado en Ho Chi Minh City del 13 al 15 de Enero del 2010. | Versión del editor: | http://dx.doi.org/10.1109/DELTA.2010.67 | URI: | http://hdl.handle.net/10261/30664 | DOI: | 10.1109/DELTA.2010.67 | ISBN: | 978-0-7695-3978-2 |
| Aparece en las colecciones: | (IMSE-CNM) Libros y partes de libros |
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