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1openAccessARTICULOS13282[1].pdf.jpgdic-2004Heat power source controller circuitMadrid, Francesc CSIC; Jordà, Xavier; Vellvehi Hernández, Miquel; Perpiñà, X.; Godignon, Philippeartículo
2closedAccessnov-2010Low-cost trench isolation technique for reverse blocking IGBT using boron nitride doping wafersVellvehi Hernández, Miquel; Gálvez Sánchez, José Luis CSIC ORCID; Perpiñá Giribet, Xavier; Jordà, Xavier; Godignon, Philippe; Millán, Joséartículo
3openAccessresonadores.pdf.jpgene-2002Sistema de excitación por pulsos para la caracterización de resonadores para atomizaciónLozano Fantoba, Manuel CSIC ORCID ; Jordà, Xavier; Chico, E.; Lozano Fantoba, Antonio CSIC ORCID; Amaveda, H. CSIC ORCID; Barreras Toledo, Félix CSIC ORCIDartículo
4openAccessES2579232A1.pdf.jpg8-ago-2016Procedimiento de análisis funcional de semiconductores alimentados inalámbricamenteLeón Cerro, Javier; Perpiñà, X.; Vellvehi Hernández, Miquel; Jordà, Xaviersolicitud de patente
5openAccesshttp___scitation.aip.org&doi=10.1063_1.pdf.jpgsep-2005Thermal calibration procedure for internal infrared laser deflection apparatusPerpiñà, X.; Jordà, Xavier; Madrid, Francesc CSIC; Flores, David; Hidalgo, Salvador ; Vellvehi Hernández, Miquel; Mestres, Narcís CSIC ORCID artículo
6closedAccessago-2008Steady-state sinusoidal thermal characterization at chip level by internal infrared-laser deflectionPerpiñà, X.; Jordà, Xavier; Vellvehi Hernández, Miquel; Altet, J.; Mestres, Narcís CSIC ORCID artículo
7closedAccess2004Internal infrared laser deflection system: a tool for power device characterizationPerpiñà, X.; Jordà, Xavier; Mestres, Narcís CSIC ORCID ; Vellvehi Hernández, Miquel; Godignon, Philippe; Millán, José; Kiedrowski, H. vonartículo
8closedAccessene-2009Laser beam deflection-based perimeter scanning of integrated circuits for local overheating locationPerpiñà, X.; Jordà, Xavier; Altet, J.; Vellvehi Hernández, Miquel; Mestres, Narcís CSIC ORCID artículo
9closedAccess2007Local thermal cycles determination in thermosyphon-cooled traction IGBT modules reproducing mission profilesPerpiñà, X.; Pitón, M.; Mermet-Guyennet, M.; Jordà, Xavier; Millán, Joséartículo
10openAccessaelm.202100380.pdf.jpg14-ago-2021Direct Visualization of Anti-Ferroelectric Switching Dynamics via Electrocaloric ImagingVales-Castro, Pablo CSIC ORCID; Vellvehi Hernández, Miquel; Perpiñá Giribet, Xavier; Caicedo Jose Manuel; Jordà, Xavier; Faye, Romain; Roleder, Krystian; Kajewski, Dariusz; Pérez-Tomás, Amador CSIC ORCID; Defay, Emmanuel; Catalán, Gustau CSIC ORCIDartículo
11closedAccessoct-2004Self-heating experimental study of 600 V PT-IGBTs under low dissipation energiesPerpiñà, X.; Jordà, Xavier; Mestres, Narcís CSIC ORCID ; Vellvehi Hernández, Miquel; Godignon, Philippe; Millán, Joséartículo
12openAccessVOLUMEN 8.pdf.jpg2020White paper on Clean, safeand efficient energySerra Alfaro, José Manuel CSIC ORCID ; Pérez-Coll, Domingo CSIC ORCID ; Míguez, Hernán CSIC ORCID ; Palacín, M. Rosa CSIC ORCID ; Martín-González, Marisol CSIC ORCID ; Jordà, Xavier; Río Andrade, José Carlos del CSIC ORCID ; Abanades García, Juan Carlos CSIC ORCID ; Conesa Cegarra, José Carlos CSIC ORCID ; Chica Lara, Antonio CSIC ORCID; Romero de Pablos, Ana CSIC ORCID ; Díaz Esteban, Mario CSIC ORCID ; Castro Martínez, Elena CSIC ORCID ; Blanco Rodríguez, Clara CSIC ORCID capítulo de libro
13openAccessoriginpbz.pdf.jpg2021Origin of large negative electrocaloric effect in antiferroelectric PbZrO3Vales-Castro, Pablo CSIC ORCID; Faye, Romain; Vellvehí Hernández, Miquel; Nouchokgwe, Youri; Perpiñá, Xavier; Caicedo, José Manuel CSIC ORCID; Jordà, Xavier; Roleder, Krystian; Kajewski, Dariusz; Pérez-Tomás, Amador CSIC ORCID; Defay, Emmanuel; Catalán, Gustau CSIC ORCIDartículo
14closedAccessoct-2008Hot-Spot Detection in Integrated Circuits by Substrate Heat-Flux SensingPerpiñà, X.; Altet, J.; Jordà, Xavier; Vellvehi Hernández, Miquel; Millán, José; Mestres, Narcís CSIC ORCID artículo
15openAccessARTICULOS13303[1].pdf.jpg2009GaN metal-oxide-semiconductor field-effect transistor inversion channel mobility modelingPérez-Tomás, A.; Placidi, A.; Perpiñà, X.; Constant, A.; Godignon, Philippe; Jordà, Xavier; Brosselard, P.; Millán, Joséartículo
16closedAccessdic-2006Transmission Fabry–Pérot interference thermometry for thermal characterization of microelectronic devicesPerpiñà, X.; Jordà, Xavier; Madrid, Francesc CSIC; Vellvehi Hernández, Miquel; Millán, José; Mestres, Narcís CSIC ORCID artículo
17closedAccessaccesoRestringido.pdf.jpg2009Comparaison de diodes SiC-4H Schottky et bipolaires 3 kV-20 AJordà, Xavierartículo
18closedAccessjul-2011Analysis of Clamped Inductive Turnoff Failure in Railway Traction IGBT Power Modules Under Overload ConditionsPerpiñà, X.; Serviere, J. F.; Urresti, J.; Cortés, Ignasi; Jordà, Xavier; Hidalgo, Salvador ; Rebollo, J.; Mermet-Guyennet, M.artículo
19closedAccess2008IGBT module failure analysis in railway applicationsPerpiñà, X.; Serviere, J. F.; Jordà, Xavier; Fauquet, A.; Hidalgo, Salvador ; Urresti, J.; Rebollo, J.; Mermet-Guyennet, M.artículo
20closedAccessrestringido.pdf.jpgdic-2008Power-Substrate Static Thermal Characterization Based on a Test ChipJordà, Xavier; Perpiñà, X.; Vellvehi Hernández, Miquel; Coleto, J.artículo
21openAccessES2374774A1.pdf.jpg22-feb-2012Método de fabricación de dispositivos RB-IGBTVellvehi Hernández, Miquel; Jordà, Xavier; Gálvez Sánchez, José Luis CSIC ORCID; Godignon, Philippe; Perpiñá Giribet, Xaviersolicitud de patente
22openAccessenergies-10-00256-v2.pdf.jpg20-feb-2017A New Vertical JFET Power Device for Harsh Radiation EnvironmentsFernández-Martínez, Pablo; Flores, David; Hidalgo, Salvador ; Jordà, Xavier; Perpiñá Giribet, Xavier; Quirion, David; Ré, Lucía; Ullán Comes, Miguel ; Vellvehi Hernández, Miquelartículo
23openAccessES2932781A1.pdf.jpg25-ene-2023Método para la medida cuantitativa de temperaturaFerrer Falces, Conrad; Perpiñá, Xavier; Vellvehi Hernández, Miquel; Jordà, Xavier; Aviñó Salvadó, Oriol CSIC ORCID solicitud de patente
24openAccessARTICULOS13057[1].pdf.jpg2005Development of an analog processing circuit for IR-radiation power and noncontact position measurementsPerpiñà, X.; Jordà, Xavier; Vellvehi Hernández, Miquel; Millán, Joséartículo
25closedAccessjul-2011SiC Schottky Diodes for Harsh Environment Space ApplicationsGodignon, Philippe; Jordà, Xavier; Vellvehi Hernández, Miquel; Perpiñà, X.; Banu, Viorel; López, Demetrio; Barbero, Juan; Brosselard, P.; Massetti, Silviaartículo
26closedAccess2003High-frequency Ultrasonic Atomization with Pulsed ExcitationLozano Fantoba, Antonio CSIC ORCID; Amaveda, H. CSIC ORCID; Barreras Toledo, Félix CSIC ORCID; Jordà, Xavier; Lozano Fantoba, Manuel CSIC ORCID artículo
27openAccessThermal Management Strategies for Low and High Voltage Retrofit LED Lamp Drivers.pdf.jpg1-abr-2019Thermal Management Strategies for Low- and High-Voltage Retrofit LED Lamp DriversPerpiñà, Xavier; Vellvehi, Miquel; Werkhoven, Robert J.; Jakovenko, Jiří; Kunen, Jos M.G.; Bancken, Peter; Bolt, Pieter J.; Jordà, Xavierartículo
28openAccessWO2016110607A1.pdf.jpg14-jul-2016Method for the functional analysis of wirelessly fed semiconductorsLeón Cerro, Javier; Perpiñà, X.; Vellvehi Hernández, Miquel; Jordà, Xaviersolicitud de patente
29openAccessES2579232B1.pdf.jpg8-ago-2016Procedimiento de análisis funcional de semiconductores alimentados inalámbricamenteLeón Cerro, Javier; Perpiñà, X.; Vellvehi Hernández, Miquel; Jordà, Xavierpatente
30openAccessClean_safe_efficient_energy.pdf.jpg2021White Paper 8: Clean safe and efficient energySerra Alfaro, José Manuel CSIC ORCID ; Pérez-Coll, Domingo CSIC ORCID ; Míguez, Hernán CSIC ORCID ; Palacín, M. Rosa CSIC ORCID ; Martín-González, Marisol CSIC ORCID ; Jordà, Xavier; Río Andrade, José Carlos del CSIC ORCID ; Abanades García, Juan Carlos CSIC ORCID ; Conesa Cegarra, José Carlos CSIC ORCID ; Chica Lara, Antonio CSIC ORCID; Romero de Pablos, Ana CSIC ORCID ; Díaz Esteban, Mario CSIC ORCID ; Castro Martínez, Elena CSIC ORCID ; Blanco Rodríguez, Clara CSIC ORCID libro
31closedAccessjul-2011Low-cost and versatile thermal test chip for power assemblies assessment and thermometric calibration purposesJordà, Xavier; Perpiñá Giribet, Xavier; Vellvehi Hernández, Miquel; Madrid, Francesc CSIC; Flores, David; Hidalgo, Salvador ; Millán, Joséartículo
32openAccessARTICULOS13782[1].pdf.jpg12-dic-2009Reduced-Order Thermal Behavioral Model Based on Diffusive RepresentationAllard, Bruno; Jordà, Xavier; Perpiñà, X.; Vellvehi Hernández, Miquel; M’Rad, Sabrineartículo
33openAccessWO2023002079A1.pdf.jpg26-ene-2023Method for the quantitative measurement of temperatureFerrer Falces, Conrad; Perpiñá, Xavier; Vellvehi Hernández, Miquel; Jordà, Xavier; Aviñó Salvadó, Oriol CSIC ORCID solicitud de patente
34closedAccessaccesoRestringido.pdf.jpg14-ago-2021Direct Visualization of Anti-Ferroelectric Switching Dynamics via Electrocaloric ImagingVales-Castro, Pablo CSIC ORCID; Vellvehí Hernández, Miquel; Perpiñá, Xavier; Caicedo, José Manuel CSIC ORCID; Jordà, Xavier; Faye, Romain; Roleder, Krystian; Kajewski, Dariusz; Pérez-Tomás, Amador CSIC ORCID; Defay, Emmanuel; Catalán, Gustau CSIC ORCIDartículo
35openAccessGetPDFServlet.pdf.jpg2-feb-2009Heterodyne lock-in thermal coupling measurements in integrated circuits: Applications to test and characterizationAltet, J.; Aldrete Vidrio, E.; Mateo, D.; Salhi, A.; Grauby, Stéphane; Claeys, W.; Dilhaire, S.; Perpiñà, X.; Jordà, Xavierartículo
36openAccessARTICULOS315585[1].pdf.jpg2011Hot spot analysis in integrated circuit substrates by laser mirage effectPerpiñà, X.; Jordà, Xavier; Vellvehi Hernández, Miquel; Altet, J.artículo
37openAccessARTICULOS13790[1].pdf.jpgmay-2010Analysis of Excess Carrier Concentration Control in Fast-Recovery High Power Bipolar Diodes at Low Current DensitiesPerpiñà, X.; Jordà, Xavier; Vellvehi Hernández, Miquel; Vobecky, J.; Mestres, Narcís CSIC ORCID artículo
38openAccessES2769265T3.pdf.jpg25-jul-2020Conjunto de máscaras metálicas auto alineadas para depositar, de modo selectivo, capas finas sobre dispositivos y substratos microelectrónicos y método de empleoJordà, Xavier; Perpiñà, X.; Vellvehi Hernández, Miquel; Sánchez, David CSIC ORCID ; Godignon, Philippetraducción de patente
39closedAccess2008A heterodyne method for the thermal observation of the electrical behavior of high-frequency integrated circuitsAltet, J.; Aldrete Vidrio, E.; Mateo, D.; Perpiñà, X.; Jordà, Xavier; Vellvehi Hernández, Miquel; Millán, José; Salhi, A.; Grauby, Stéphane; Claeys, W.; Dilhaire, S.artículo
40openAccessOutput Power and Gain Monitoring in RF CMOS Class A Power Amplifiers by Thermal Imaging.pdf.jpg1-ago-2019Output Power and Gain Monitoring in RF CMOS Class A Power Amplifiers by Thermal ImagingPerpiñà, Xavier; Reverter, Ferran; León, Javier CSIC ORCID CVN; Barajas, Enrique; Vellvehi, Miquel; Jordà, Xavier; Altet, Josepartículo
41closedAccessjul-2011Long-Term Reliability of Railway Power Inverters Cooled by Heat-Pipe-Based SystemsPerpiñà, X.; Jordà, Xavier; Vellvehi Hernández, Miquel; Rebollo, J.; Mermet-Guyennet, M.artículo
42openAccess2317731_B1.pdf.jpg4-feb-2010Interruptor de potencia bidireccional, inteligente y modular. Método y realizaciónJordà, Xavier; Gálvez Sánchez, José Luis CSIC ORCID; Vellvehi Hernández, Miquel; Godignon, Philippe; José Prieto, Miguel Ángel; Martín Ramos, Juan Antoniopatente
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